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Ellipsometry examination of copper alloys with transitive metals

Electron structure of copper alloys with 3d transition metals (Fe, Co and Cr) have been studied basing on elliposometrical measurement of D and Y in wide spectral range hn = 1.0–4.95 eV. Spectral dependences of Cu-Cr alloys optical conductivity in wide range of chrome concentration (C = 2.5–30 at. %...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:	2004
Hauptverfasser:	Filipov, Y.V., Staschuk, V.S., Poperenko, L.V., Vovchenko, V.V.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119126
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Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Ellipsometry examination of copper alloys with transitive metals / Y.V. Filipov, V.S. Staschuk, L.V. Poperenko, V.V. Vovchenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2004. — Т. 7, № 3. — С. 287-290. — Бібліогр.: 10 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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