Structural dependence of CsI(Tl) film scintillation properties

• Опубліковано в: : Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
• Дата: 2004
• Автори: Ananenko, A., Fedorov, A., Lebedinsky, A., Mateychenko, P., Tarasov, V., Vidaj, Yu.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119128
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Structural dependence of CsI(Tl) film scintillation properties / A. Ananenko, A. Fedorov, A. Lebedinsky, P. Mateychenko, V. Tarasov, Yu. Vidaj // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2004. — Т. 7, № 3. — С. 297-300. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

Scintillating CsI(Tl) films were obtained by vacuum deposition on single crystalline LiF substrates and non-orienting glass substrates. Their structure and morphology were examined by X-ray diffraction and scanning electron microscopy. Scintillation properties of films dependent on their structure a...