Kirillova, S., Primachenko, V., Venger, E., & Chernobai, V. (2001). Electronic properties of silicon surface at different oxide film conditions. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationKirillova, S.I, V.E Primachenko, E.F Venger, and V.A Chernobai. Electronic Properties of Silicon Surface at Different Oxide Film Conditions. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2001.
MLA (8th ed.) CitationKirillova, S.I, et al. Electronic Properties of Silicon Surface at Different Oxide Film Conditions. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2001.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.