Kirillova, S., Primachenko, V., Venger, E., & Chernobai, V. (2001). Electronic properties of silicon surface at different oxide film conditions. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Kirillova, S.I, V.E Primachenko, E.F Venger, та V.A Chernobai. Electronic Properties of Silicon Surface at Different Oxide Film Conditions. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2001.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Kirillova, S.I, et al. Electronic Properties of Silicon Surface at Different Oxide Film Conditions. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2001.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.