Lysenko, V., Tyagulski, I., Gomeniuk, Y., & Osiyuk, I. (2001). Effect of oxide-semiconductor interface traps on low-temperature operation of MOSFETs. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Lysenko, V.S, I.P Tyagulski, Y.V Gomeniuk, та I.N Osiyuk. "Effect of Oxide-semiconductor Interface Traps on Low-temperature Operation of MOSFETs." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2001.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Lysenko, V.S, et al. "Effect of Oxide-semiconductor Interface Traps on Low-temperature Operation of MOSFETs." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2001.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.