Kovalenko, S., & Lisitsa, M. (2001). Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Kovalenko, S.A, та M.P Lisitsa. "Thickness Dependences of Optical Constants for Thin Layers of Some Metals and Semiconductors." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2001.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Kovalenko, S.A, та M.P Lisitsa. "Thickness Dependences of Optical Constants for Thin Layers of Some Metals and Semiconductors." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2001.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.