Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors
The review comprises investigations devoted to determination of refractive index and absorption coefficient dependences on thickness for thin films of metals and atomic semiconductors.
 It has been shown that erroneous results were obtained in many papers and correct interpretation of the la...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2001 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2001
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119328 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors / S.A. Kovalenko, M.P. Lisitsa // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2001. — Т. 4, № 4. — С. 352-357. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. |