Зображення обкладинки

Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors

The review comprises investigations devoted to determination of refractive index and absorption coefficient dependences on thickness for thin films of metals and atomic semiconductors. It has been shown that erroneous results were obtained in many papers and correct interpretation of the la...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:	2001
Автори:	Kovalenko, S.A., Lisitsa, M.P.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2001
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119328
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors / S.A. Kovalenko, M.P. Lisitsa // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2001. — Т. 4, № 4. — С. 352-357. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Optical size effects in thin gold films
за авторством: Kovalenko, S.A., та інші
Опубліковано: (2002)

Approximate estimates of complex heat exchange in optically thickness and optically thin turbulent boundary layer
за авторством: A. A. Avramenko, та інші
Опубліковано: (2019)

Optical recording of information pits in thin layers of chalcogenide semiconductors
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)

Optical properties of thin metal films
за авторством: Kovalenko, S.A.
Опубліковано: (1999)

Thickness-dependent structural, electrical, and optical properties of ZnS thin films deposited by thermal evaporation
за авторством: R. Vishwakarma
Опубліковано: (2017)

Thickness-dependent structural, electrical, and optical properties of ZnS thin films deposited by thermal evaporation
за авторством: R. Vishwakarma
Опубліковано: (2017)

Dependence of electrical conductivity on Bi₂Se₃ thin film thickness
за авторством: Menshikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2017)

Dependences of thermoelectric properties on the thickness of thin films of indium doped lead telluride
за авторством: S. I. Menshikova, та інші
Опубліковано: (2014)

Optical properties of thin gold film
за авторством: Kovalenko, S.A., та інші
Опубліковано: (2000)

Dependences of dipole plasmon resonance damping constants on the shape of metallic nanoparticles
за авторством: P. M. Tomchuk, та інші
Опубліковано: (2015)

Dependences of dipole plasmon resonance damping constants on the shape of metallic nanoparticles
за авторством: P. M. Tomchuk, та інші
Опубліковано: (2015)

Determination of the distorted surface layer thickness in machined optically transparent polymer articles
за авторством: Khlapova, N.P., та інші
Опубліковано: (2004)

Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (1999)

Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method
за авторством: K. A. Lukin, та інші
Опубліковано: (2017)

Surface plasmon polaritons in dielectric/metal/dielectric structures: metal layer thickness influence
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)

Compression of thin layer rubber-metal elements
за авторством: V. I. Dyrda, та інші
Опубліковано: (2017)

Image infrared converters based on ferroelectric- semiconductor thin-layer systems
за авторством: Sosnin, A.
Опубліковано: (2000)

Optical properties of metal-composite-based thin films
за авторством: Gozhenko, V.V., та інші
Опубліковано: (2002)

Radiation and thermal stability of thin layers, he-terosystems and nanostructures, created on the basis of elementary semiconductors and semiconductor com-pounds
за авторством: P. I. Baranskyi, та інші
Опубліковано: (2010)

Effect of magnetic and electric fields on optical properties of semiconductor spherical layer
за авторством: V. A. Holovatsky, та інші
Опубліковано: (2014)

Effect of magnetic and electric fields on optical properties of semiconductor spherical layer
за авторством: Holovatsky, V.A., та інші
Опубліковано: (2014)

Surface layers and thickness dependences of the thermoelectric properties of the steam-phase condensates of the last on the sieve
за авторством: D. M. Freik, та інші
Опубліковано: (2015)

Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them
за авторством: V. V. Lendel, та інші
Опубліковано: (2010)

Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them
за авторством: Lendel, V.V., та інші
Опубліковано: (2010)

Temperature dependence of surface state parameters of metal-insulator-semiconductor structures
за авторством: O. O. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2012)

On temperature dependence of diffusion constant
за авторством: S. A. Firstov, та інші
Опубліковано: (2014)

Optical properties of graphene film growing on a thin copper layer
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2016)

Optical properties of graphene film growing on a thin copper layer
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2016)

Optical biosensors based on the surface plasmon resonance phenomenon: optimization of the metal layer parameters
за авторством: Snopok, B.A., та інші
Опубліковано: (2001)

ANALYSIS OF THE DEPENDENCE OF THE BOILER'S ENERGY EFFICIENCY ON THE SOOT LAYER THICKNESS DEPOSITED ON ITS HEAT EXCHANGE SURFACE
за авторством: Surzhyk , O.
Опубліковано: (2025)

Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2014)

Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: Okhrimenko, O.B.
Опубліковано: (2014)

Conductivity of pressed powders of chromium dioxide with spin-dependent electron tunneling: the effect of thickness and composition of dielectric layers
за авторством: N. V. Dalakova, та інші
Опубліковано: (2019)

Charge dependence of the pion-nucleon coupling constant
за авторством: V. A. Babenko, та інші
Опубліковано: (2015)

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2015)

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2015)

Discretization of Thin-Walled Sections with Variable Wall Thickness
за авторством: Гребенніков, М. М., та інші
Опубліковано: (2025)

Discretization of Thin-Walled Sections with Variable Wall Thickness
за авторством: Гребенніков, М. М., та інші
Опубліковано: (2025)

Some peculiarities of the mechanism of irreversible photostructural transformations in thin As-S-Se layers
за авторством: Stronski, A.V.
Опубліковано: (2001)

Determination of natural frequencies of an elliptic shell of constant thickness by the finite element method
за авторством: V. D. Budak, та інші
Опубліковано: (2014)