Зображення обкладинки

Divergent-beam X-ray structural studies of a disturbed surface layer in silicon plates

A Kossel chamber for reflected-beam X-ray studying of single crystal surfaces has been developed on the basis of a BS-340 scanning electron microscope. We have examined the structure of a disturbed layer of silicon plates after chemico-mechanical polishing. The intensity of X-ray reflection from the...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:	2002
Автор:	Tkach, V.N.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2002
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119563
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Divergent-beam X-ray structural studies of a disturbed surface layer in silicon plates / V.N. Tkach // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2002. — Т. 5, № 1. — С. 36-38. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Influence of absorption level on mechanisms of Braggdiffracted x-ray beam formation in real silicon crystals
за авторством: Klad'ko, V. P., та інші
Опубліковано: (1999)

Structure and luminescence study of nanoporous silicon layers with high internal surface
за авторством: Makara, V.A., та інші
Опубліковано: (2003)

The research of X-ray and gamma radiation absorption by layered structures
за авторством: Deiev, O.S., та інші
Опубліковано: (2016)

XRF with a primary X-rays from the target with monoisotopical surface layer
за авторством: Levenets, V., та інші
Опубліковано: (2016)

Location of heavy elements by monochromatic X-ray beam
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2004)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

Studies of run-away electron beams and hard x-ray emission in ISTTOK tokamak
за авторством: Jakubowski, L., та інші
Опубліковано: (2011)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)

X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Coherent X-ray radiation by relativistic electron in a structure “amorphous layer - periodic layered medium”
за авторством: Blazhevich, S.V., та інші
Опубліковано: (2016)

X-ray phase and structural study of Ce–Zn–Ga alloys
за авторством: Yu. V. Verbovytskyy
Опубліковано: (2024)

Study of the structural features of multilayer carbon nanotubes by X-ray analysis
за авторством: E. A. Lysenkov, та інші
Опубліковано: (2015)

X-ray spectroscopic study of structural isotypism in Me₂Si silicides
за авторством: Gel, P.V., та інші
Опубліковано: (2004)

Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam
за авторством: Pomatsalyuk, R.I., та інші
Опубліковано: (2021)

Quasimonochromatic beam of parametric X-ray radiation for control of heavy elements
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Microdetector system for speedy X-ray studies
за авторством: O. S. Kovalchuk, та інші
Опубліковано: (2016)

Influence of relativistic electron beam divergence on angular characteristics of PXR and DTR generated in a single-crystal plate in Bragg scattering geometry
за авторством: Blazhevich, S.V., та інші
Опубліковано: (2015)

Functionalization and nanostructurization of surface layers of porous silicon
за авторством: Ye. I. Zubko
Опубліковано: (2013)

SANS and x-ray studies of structural transitions in impurity-helium gel samples
за авторством: V. B. Efimov, та інші
Опубліковано: (2020)

Complex destruction of near-surface silicon layers of Si-SiO₂ structure
за авторством: Yatsunskiy, I.R., та інші
Опубліковано: (2010)

Nuclear microanalysis study of surface nanolayers in gold-silicon structures
за авторством: V. I. Soroka, та інші
Опубліковано: (2013)

Nuclear microanalysis study of surface nanolayers in gold-silicon structures
за авторством: V. I. Soroka, та інші
Опубліковано: (2013)

The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)

X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface
за авторством: M. I. Terebinskaja, та інші
Опубліковано: (2016)

Study on the synchrotron dynamics in the Compton X-ray ring
за авторством: Bulyak, E.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Electronic structure and x-ray magnetic circular dichroism in uranium monochalcogenides
за авторством: Antonov, V.N., та інші
Опубліковано: (2004)

X-ray spectroscopy studies of the electronic structure and band-structure calculations of cubic TaCxN1-x carbonitrides
за авторством: Lavrentyev, A.A., та інші
Опубліковано: (2006)

Complex destruction of near-surface silicon layers of Si-SiO2 structure
за авторством: I. R. Yatsunskiy, та інші
Опубліковано: (2010)

Electronic structure and x-ray magnetic circular dichroism of Mn-doped TiO₂
за авторством: Bekenov, L.V., та інші
Опубліковано: (2015)

Electronic structure and x-ray magnetic circular dichroism in the Mn₃CuN perovskite
за авторством: Antonov, V.N., та інші
Опубліковано: (2014)

Spectrometric registration of x-ray and gamma radiation by detecting modules “silicon planar detector - scintillator”
за авторством: Bochek, G.L., та інші
Опубліковано: (2022)

Effect of X-ray suppression system upon parameters of electrostatic accelerator ion beam
за авторством: I. G. Ignatev, та інші
Опубліковано: (2014)

High-frequency kernel in the algorithm of function restoration from the projections for diverging beams
за авторством: Tarasenko-Zelenaya , L. I., та інші
Опубліковано: (1988)

Terahertz and soft x rays radiation from suddenly created plasma layer
за авторством: Gildenburg, V.B., та інші
Опубліковано: (2005)

Influence of the plasma chemical etching on the silicon plates surface of photo electric converters
за авторством: B. P. Polozov, та інші
Опубліковано: (2006)

Anomalous dispersion of the surface and waveguide modes in plate of layered superconductor
за авторством: S. S. Apostolov, та інші
Опубліковано: (2017)

Investigation of structure surface of the sorbent-catalyst modified by MnO2 X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)

Electronic structure, Fermi surface and x-ray magnetic circular dichroism in the CeAgSb2
за авторством: V. N. Antonov
Опубліковано: (2019)

Morphology change of the silicon surface induced by Ar+ ion beam sputtering
за авторством: Kharchenko, V.O., та інші
Опубліковано: (2011)