Production and investigation of Cu/thin intermediate tunnel-transparent dielectric oxide layer/n-Pb₀.₉₃₅Sn₀.₀₆₅Te₀.₂₄₃Se₀.₇₅₇/In Schottky barrier structures
The high-planar epitaxial layers of n-Pb₀.₉₃₅Sn₀.₀₆₅Te₀.₂₄₃Se₀.₇₅₇ quaternary solid solutions, lattice matched with {111}BaF2 substrates, have been grown from bounded volume of supersaturated melt-solutions in the growth temperature region 773-873 K by the liquid phase epitaxy technique at a program...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2002 |
| Автори: | Tkachuk, A.I., Tsarenko, O.N., Ryabets, S.I. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2002
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119567 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Production and investigation of Cu/thin intermediate tunnel-transparent dielectric oxide layer/n-Pb₀.₉₃₅Sn₀.₀₆₅Te₀.₂₄₃Se₀.₇₅₇/In Schottky barrier structures / A.I. Tkachuk, O.N. Tsarenko, S.I. Ryabets // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2002. — Т. 5, № 1. — С. 51-57. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates
за авторством: Tsarenko, O.N., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Tsarenko, O.N., та інші
Опубліковано: (2005)
Thin Film Detector CdTe Structures with Schottky Barrier
за авторством: Sh. A. Mirsagatov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Sh. A. Mirsagatov, та інші
Опубліковано: (2013)
Investigation of the intermediate layers of a diode with a Schottky barrier Al-pCdTe-Mo
за авторством: Sh. A. Mirsagatov, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Sh. A. Mirsagatov, та інші
Опубліковано: (2012)
On the work function and Schottky barrier heights of metal nanofilms in a dielectric environment
за авторством: A. V. Babich
Опубліковано: (2014)
за авторством: A. V. Babich
Опубліковано: (2014)
On the work function and Schottky barrier heights of metal nanofilms in a dielectric environment
за авторством: A. V. Babich
Опубліковано: (2014)
за авторством: A. V. Babich
Опубліковано: (2014)
Scattering mechanisms of electrons in monocrystalline PbTe, PbSe and PbS
за авторством: Freik, D.M., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Freik, D.M., та інші
Опубліковано: (2002)
Phase equilibria in the system Tl2Te—SnTe—PbTe
за авторством: M. Y. Filep, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: M. Y. Filep, та інші
Опубліковано: (2012)
Combination of thermionic emission and tunneling mechanisms to analyze the leakage current in 4H-SiC Schottky barrier diodes
за авторством: A. Latreche
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. Latreche
Опубліковано: (2019)
Combination of thermionic emission and tunneling mechanisms to analyze the leakage current for 4H-SiC Schottky barrier diodes
за авторством: Latreche, A.
Опубліковано: (2019)
за авторством: Latreche, A.
Опубліковано: (2019)
Effect of pressure on the characteristics of Schottky barrier diodes made of overcompensated semiconductor
за авторством: Vlasov, S.I., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Vlasov, S.I., та інші
Опубліковано: (2010)
Schottky structures nZnSe(O,Te)/Ni as candidates for selective ultraviolet detectors
за авторством: Katrunov, K., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Katrunov, K., та інші
Опубліковано: (2008)
Current-voltage characteristics of double tunnel contacts Co2CrAl–I–Pb/Sn–I–Pb at spin-polarized tunnel injection
за авторством: E. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: E. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2012)
Влияние высоких давлений на электрические свойства сегнетоэлектриков AgPbSbSe₃, CuSnAsSe₃, CuSnSbSe₃, AgSnSbSe₃ и CuSnSbS₃
за авторством: Хейфец, О.Л., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Хейфец, О.Л., та інші
Опубліковано: (2009)
Dipole models of proper ferroelectrics NaNO₂ and Sn(Pb)₂P₂S(Se)₆
за авторством: Drobnich, A., та інші
Опубліковано: (1998)
за авторством: Drobnich, A., та інші
Опубліковано: (1998)
Peculiarities of the concentration dependences of structural and thermoelectric properties in solid solutions PbTe-PbSe
за авторством: E. I. Rogacheva, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: E. I. Rogacheva, та інші
Опубліковано: (2013)
Size effects in thin n-PbTe films
за авторством: Men'shikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2014-12-29)
за авторством: Men'shikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2014-12-29)
Formation of ickel-platinum silicide layer as a barrier Schottky diodes
за авторством: P. V. Kuchinskij, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: P. V. Kuchinskij, та інші
Опубліковано: (2014)
Schottky-barrier Au–TiBx–n-GaN contacts
за авторством: Ya. Kudryk
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ya. Kudryk
Опубліковано: (2015)
Effect of pressure on the characteristics of Schottky barrier diodes made of overcompensated semiconductor
за авторством: S. I. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: S. I. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2010)
Photoresponse of Schottky-barrier detector under strong IR laser excitation
за авторством: Asmontas, S., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Asmontas, S., та інші
Опубліковано: (2000)
Фазові рівноваги в системі Tl₂Те—SnТе—PbTe
за авторством: Філеп, М.Й., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Філеп, М.Й., та інші
Опубліковано: (2012)
Size effects in thin PbSe films
за авторством: E. I. Rogacheva, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: E. I. Rogacheva, та інші
Опубліковано: (2012)
SiC Schottky-barrier diodes formed with TiBx and ZrBx amorphous layers
за авторством: Boltovets, N.S., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Boltovets, N.S., та інші
Опубліковано: (2004)
Features of charge transport in Mo/n-Si structures with a Schottky barrier
за авторством: Ya. Olikh
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ya. Olikh
Опубліковано: (2013)
Features of charge transport in Mo/n-Si structures with a Schottky barrier
за авторством: Ya. Olikh
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ya. Olikh
Опубліковано: (2013)
Tunnel heterojunctions based on MgB2 thin films with different functions of transparency distribution
за авторством: A. P. Shapovalov, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: A. P. Shapovalov, та інші
Опубліковано: (2011)
Fourier-transform spectroscopy of the persistent photoconductivity in PbSnTe(In) films at low temperatures
за авторством: A. V. Ikonnikov, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. V. Ikonnikov, та інші
Опубліковано: (2019)
Термоелектричні властивості евтектичних сплавів систем TlBiSe₂—SnSe₂ (Tl₂SnSe₃, Tl₄SnSe₄) і Tl₄SnSe₄—Tl₉BiSe₆
за авторством: Козьма, А.А., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Козьма, А.А., та інші
Опубліковано: (2011)
Carrier transport mechanisms in polycrystalline sandwich structures p+-PbTe/p-CdTe/p+-PbTe
за авторством: A. V. Sukach, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: A. V. Sukach, та інші
Опубліковано: (2013)
Formation of polished surface of PbTe and Pb1-xSnxTe semiconductor plates PbTe y Pb1–xSnxTe
за авторством: G. P. Malanich, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: G. P. Malanich, та інші
Опубліковано: (2018)
Tunneling into localized barrier states in superconducting heterostructures
за авторством: V. E. Shaternik, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. E. Shaternik, та інші
Опубліковано: (2016)
Methods for deter-mination of schottky barrier height from I-V curves (review)
за авторством: Ja. Ja. Kudrik, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Ja. Ja. Kudrik, та інші
Опубліковано: (2014)
Conduction mechanisms of the reverse leakage current of β-Ga₂O₃ Schottky barrier diodes
за авторством: Latreche, A.
Опубліковано: (2019)
за авторством: Latreche, A.
Опубліковано: (2019)
DIELECTRIC WINDOWS WITH A FLAT-TOPPED CHARACTERISTIC OF TRANSPARENCY
за авторством: Shcherbak, V. V.
Опубліковано: (2013)
за авторством: Shcherbak, V. V.
Опубліковано: (2013)
Dielectric Windows with a Flat-Topped Characteristic of Transparency
за авторством: V. V. Shcherbak
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. V. Shcherbak
Опубліковано: (2013)
Фазові рівноваги у системі SnSe₂—Tl₂SnSe₃—TlBiSe₂
за авторством: Козьма, А.А., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Козьма, А.А., та інші
Опубліковано: (2010)
Reentrant superconductivity in a hybrid heterostructure with a high transparency barrier
за авторством: E. E. Zubov
Опубліковано: (2021)
за авторством: E. E. Zubov
Опубліковано: (2021)
Research on crystal structure and morphology of the surfaces of thin films of PbTe and PbTe<Bi2Te3>
за авторством: Yu. V. Tur, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Yu. V. Tur, та інші
Опубліковано: (2020)
Effect of Gas environment on electrophysical parameters of heterojunctions on the basis of schottky barrier with nano-structured (95% In2O3 + 5% SnO2) Oxide films
за авторством: V. V. Ilchenko, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. V. Ilchenko, та інші
Опубліковано: (2016)
Effect of Gas environment on electrophysical parameters of heterojunctions on the basis of schottky barrier with nano-structured (95% In2O3 + 5% SnO2) oxide films
за авторством: V. V. Ilchenko, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. V. Ilchenko, та інші
Опубліковано: (2016)
Схожі ресурси
-
Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates
за авторством: Tsarenko, O.N., та інші
Опубліковано: (2005) -
Thin Film Detector CdTe Structures with Schottky Barrier
за авторством: Sh. A. Mirsagatov, та інші
Опубліковано: (2013) -
Investigation of the intermediate layers of a diode with a Schottky barrier Al-pCdTe-Mo
за авторством: Sh. A. Mirsagatov, та інші
Опубліковано: (2012) -
On the work function and Schottky barrier heights of metal nanofilms in a dielectric environment
за авторством: A. V. Babich
Опубліковано: (2014) -
On the work function and Schottky barrier heights of metal nanofilms in a dielectric environment
за авторством: A. V. Babich
Опубліковано: (2014)