Melnik, V., Popov, V., Kruger, D., & Oberemok, O. (1999). AES and XPS characterization of TiN layers formed and modified by ion implantation. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Melnik, V., V. Popov, D. Kruger, та O. Oberemok. "AES and XPS Characterization of TiN Layers Formed and Modified by Ion Implantation." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 1999.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Melnik, V., et al. "AES and XPS Characterization of TiN Layers Formed and Modified by Ion Implantation." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 1999.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.