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Optical characterization of pseudomorphic AlGaAs/InGaAs/GaAs heterostructures

Pseudomorphic strained-layer AlxGa₁₋xAs/InyGa₁₋yAs/GaAs heterostructures have been studied by means of photoluminescence and Raman scattering. It is established the correlation between the photoluminescence line shape changes and the Raman spectra modification when the quantum well width is below th...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:1999
Hauptverfasser: Zhuchenko, Z.Ya., Tarasov, G.G., Lavorik, S.R., Mazur, Yu.I., Valakh, M.Ya., Kissel, H., Masselink, W.T. , Mueller, U., Walther, C.
Format: Artikel
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1999
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119877
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Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Optical characterization of pseudomorphic AlGaAs/InGaAs/GaAs heterostructures / Z.Ya. Zhuchenko, G.G. Tarasov, S.R. Lavorik, Yu.I. Mazur, M.Ya. Valakh, H. Kissel, W.T. Masselink, U. Mueller, C. Walther // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1999. — Т. 2, № 3. — С. 103-108. — Бібліогр.: 24 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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