Local atomic structures in Si₁₋xGex and Si₁₋xSnx random solid solutions

Using molecular-dynamics method based on three-particle Tersoff’s potential simulation we have studied the Si₁₋xGex and Si₁₋xSnx random solid solutions. Bond lengths and strain energies of these alloys can be predicted. The calculated results are compared with those obtained from other theoretical...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:2005
Автори: Deibuk, V.G., Korolyuk, Yu.G.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2005
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119915
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Local atomic structures in Si₁₋xGex and Si₁₋xSnx random solid solutions / V.G. Deibuk,Yu.G. Korolyuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2005. — Т. 8, № 1. — С. 1-5. — Бібліогр.: 20 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Using molecular-dynamics method based on three-particle Tersoff’s potential simulation we have studied the Si₁₋xGex and Si₁₋xSnx random solid solutions. Bond lengths and strain energies of these alloys can be predicted. The calculated results are compared with those obtained from other theoretical calculations and experimental measurements.
ISSN:1560-8034