Rozouvan, T., Poperenko, L., & Shaykevich, I. (2015). Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Rozouvan, T.S, L.V Poperenko, та I.A Shaykevich. "Influence of the Surface Roughness and Oxide Surface Layer onto Si Optical Constants Measured by the Ellipsometry Technique." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2015.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Rozouvan, T.S, et al. "Influence of the Surface Roughness and Oxide Surface Layer onto Si Optical Constants Measured by the Ellipsometry Technique." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2015.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.