High-stable standard samples of mass in the nano-gram range
High-stable mass standards prepared as magnetron sputtered super-smooth metal layers deposited on single crystal substrates were attested. The thin film standards were found to meet the requirements to government standards: they are homogeneous, long-lived, and can be attested by several independent...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Functional Materials |
|---|---|
| Дата: | 2013 |
| Автори: | Mikhailov, I.F., Baturin, A.A., Bugaev, Ye.A., Mikhailov, A.I., Borisova, S.S. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2013
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120075 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | High-stable standard samples of mass in the nano-gram range / I.F. Mikhailov, A.A. Baturin, Ye.A. Bugaev, A.I. Mikhailov, S.S. Borisova // Functional Materials. — 2013. — Т. 20, № 2. — С. 266-271. — Бібліогр.: 9 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Increasing the sensitivity of X-ray fluorescent scheme with secondary radiator using the initial spectrum filtration
за авторством: Mikhailov, I.F., та інші
Опубліковано: (2012) -
X-ray method for determination of mineral constituent in solid fuel
за авторством: Mikhailov, I.F., та інші
Опубліковано: (2014) -
On application of X-ray aproximation method for studying the substructure of sufficiently perfect samples
за авторством: Malykhin, S.V., та інші
Опубліковано: (2017) -
New approach to grain boundaries detection in polycrystalline materials by scratching of sample's surface
за авторством: Badiyan, E.E., та інші
Опубліковано: (2011) -
Position-sensitive detector based on plastic scintillator for muon tomography
за авторством: Ivanov, A.I., та інші
Опубліковано: (2015)