Jahromi, S., & Masoudi, S. (2012). Investigating the effects of smoothness of interfaces on stability of probing nano-scale thin films by Neutron Reflectometry. Інститут фізики конденсованих систем НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Jahromi, S.S, та S.F Masoudi. Investigating the Effects of Smoothness of Interfaces on Stability of Probing Nano-scale Thin Films by Neutron Reflectometry. Інститут фізики конденсованих систем НАН України, 2012.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Jahromi, S.S, та S.F Masoudi. Investigating the Effects of Smoothness of Interfaces on Stability of Probing Nano-scale Thin Films by Neutron Reflectometry. Інститут фізики конденсованих систем НАН України, 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.