Зображення обкладинки

Investigating the effects of smoothness of interfaces on stability of probing nano-scale thin films by Neutron Reflectometry

Most of the reflectometry methods which are used for determining the phase of complex reflection coefficient such as Reference Method and Variation of Surroundings medium are based on solving the Schrödinger equation using a discontinuous and step-like scattering optical potential. However, during t...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Condensed Matter Physics
Дата:2012
Автори: Jahromi, S.S., Masoudi, S.F.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут фізики конденсованих систем НАН України 2012
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120155
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Investigating the effects of smoothness of interfaces on stability of probing nano-scale thin films by Neutron Reflectometry / S.S. Jahromi, S.F. Masoudi // Condensed Matter Physics. — 2012. — Т. 15, № 1. — С. 13604: 1-10. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Схожі ресурси