Флуктуационная проводимость и псевдощель в пленках Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y - Соловьев, А.В.; Дмитриев, В.М. (Физика низких температур, 2006)
Исследованы флуктуационная проводимость (ФП) и псевдощель (ПЩ) в пленках
Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y с x ≈ 0,1. Показано, что температурная зависимость ФП такая же, как и в
пленках YBa₂Cu₃O₇₋y при наличии дефектов. В то же время температурная зависимость ПЩ
отличается от аналогичной зависимости, полученной для пленок YBa₂Cu₃O₇₋y. Обнаружено
увеличение длины когерентности и снижение характеристической температуры T* в
Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y при увеличении концентрации Pr. Досліджено флуктуаційну провідність (ФП) та псевдощілину (ПЩ) у плівках
Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y з x ≈ 0,1. Показано, що температурна залежність ФП така ж, як і в плівках
YBa₂Cu₃O₇₋y при наявності дефектів. У той же час температурна залежність ПЩ відрізняється
від аналогічної залежності, отриманої для плівок YBa₂Cu₃O₇₋y. Виявлено збільшення довжини когерентності й зниження характеристичної температури T* в
Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y при
збільшенні концентрації Pr. Fluctuation conductivity (FC) and
pseudogap (PG) have been analyzed for
Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y films with x ≈ 0,1. The temperature
dependence of FC is shown to be the
same as that in YBa₂Cu₃O₇₋y films with a defect
structure. At the same time the temperature dependence
of PG is different compared with that
obtained for the YBa₂Cu₃O₇₋y films. It is also
found that in Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y films an increase
in Pr concentration results in increase of
coherence length as well as in decrease of T*.