Microwave properties of HTS films: measurements in millimeter wave range

A theoretical and experimental justification of an approach proposed and developed by us for surface impedance standard measurements of HTS films is presented. An analysis of the electromagnetic properties of quasi-optical dielectric resonators with conducting endplates, which provides a theoreti...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физика низких температур
Datum:2006
Hauptverfasser: Cherpak, N.T., Barannik, A.A., Prokopenko, Yu.V., Filipov, Yu.F., Vitusevich, S.A.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2006
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120207
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Microwave properties of HTS films: measurements in millimeter wave range / N.T. Cherpak, A.A. Barannik, Yu.V. Prokopenko, Yu.F. Filipov, S.A. Vitusevich // Физика низких температур. — 2006. — Т. 32, № 6. — С. 795–801. — Бібліогр.: 21 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine