Microwave properties of HTS films: measurements in millimeter wave range
A theoretical and experimental justification of an approach proposed and developed by us for surface impedance standard measurements of HTS films is presented. An analysis of the electromagnetic properties of quasi-optical dielectric resonators with conducting endplates, which provides a theoreti...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика низких температур |
|---|---|
| Datum: | 2006 |
| Hauptverfasser: | , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2006
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120207 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Microwave properties of HTS films: measurements in millimeter wave range / N.T. Cherpak, A.A. Barannik, Yu.V. Prokopenko, Yu.F. Filipov, S.A. Vitusevich // Физика низких температур. — 2006. — Т. 32, № 6. — С. 795–801. — Бібліогр.: 21 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSchreiben Sie den ersten Kommentar!