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Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study

A multiple angle ellipsometric method is used for measurements of thin film layers on substrates. The method evaluates fundamental optical constants and thicknesses of the film layers. Dielectric functions of the surface layers on the gadolinium gallium garnet (GdGaG) substrate – commonly used subst...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:	1999
Hauptverfasser:	Belyaeva, A.I., Galuza, A.A., Grebennik, T.G., Yuriyev, V.P.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1999
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120246
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Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study / A.I. Belyaeva, A.A. Galuza, T.G. Grebennik, V.P. Yuriyev // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1999. — Т. 2, № 4. — С. 61-65. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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