Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study

• Опубліковано в: : Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
• Дата: 1999
• Автори: Belyaeva, A.I., Galuza, A.A., Grebennik, T.G., Yuriyev, V.P.
• Формат: Стаття
• Мова: Англійська
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1999
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120246
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study / A.I. Belyaeva, A.A. Galuza, T.G. Grebennik, V.P. Yuriyev // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1999. — Т. 2, № 4. — С. 61-65. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

A multiple angle ellipsometric method is used for measurements of thin film layers on substrates. The method evaluates fundamental optical constants and thicknesses of the film layers. Dielectric functions of the surface layers on the gadolinium gallium garnet (GdGaG) substrate – commonly used subst...