Holiney, R., Matveeva, L., & Venger, E. (1999). Investigation of the undersurface damaged layers in silicon wafers. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Holiney, R.Yu, L.A Matveeva, та E.F Venger. "Investigation of the Undersurface Damaged Layers in Silicon Wafers." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 1999.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Holiney, R.Yu, et al. "Investigation of the Undersurface Damaged Layers in Silicon Wafers." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 1999.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.