Pre- and postmelting of cadmium telluride

A stepwise character of cadmium telluride melting is shown by using differential thermal analysis and conductivity measurements in the 1323 to 1473 K temperature range. According to the results of differential thermal analysis the parameters of CdTe melting are determined by the premelting processes...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:1999
Автори: Shcherbak, L.P., Feichouk, P.I., Plevachouk, Yu.A., Kopach, O.V., Turyanska, L.T.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1999
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120258
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Pre- and postmelting of cadmium telluride / L.P. Shcherbak, P.I. Feichouk, Yu.A. Plevachouk, O.V. Kopach, L.T. Turyanska // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1999. — Т. 2, № 4. — С. 76-80. — Бібліогр.: 21 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:A stepwise character of cadmium telluride melting is shown by using differential thermal analysis and conductivity measurements in the 1323 to 1473 K temperature range. According to the results of differential thermal analysis the parameters of CdTe melting are determined by the premelting processes that are related to defect production in crystal lattice. The crystallization processes are controlled with the melt state (structure) that depends on its maximum temperature.
ISSN:1560-8034