Crystal optical method for temperature measuring
A new crystal optical method for temperature measuring based on the sign
 inversion of birefringence ∆n and temperature dependence of ∆n(T)
 is substantiated. The respective characteristics of some crystals are presented,
 which confirm good metrological and exploitation prop...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Condensed Matter Physics |
|---|---|
| Дата: | 2002 |
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики конденсованих систем НАН України
2002
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120660 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Crystal optical method for temperature
 measuring / M.O. Romanyuk, B. Andriyevsky, O. Kostetsky, M.M. Romanyuk, V. Stadnyk // Condensed Matter Physics. — 2002. — Т. 5, № 3(31). — С. 579-586. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | A new crystal optical method for temperature measuring based on the sign
inversion of birefringence ∆n and temperature dependence of ∆n(T)
is substantiated. The respective characteristics of some crystals are presented,
which confirm good metrological and exploitation properties of the
method. It is noted that the method solves some problems which arise in
thermometry based on thermoelectricity and thermoresistance. The proposed
method also gives better possibilities for measuring the temperature
in hard conditions (in the region of high electric and magnetic fields, rotating
workpieces etc.).
Обгрунтовується новий кристалооптичний метод вимірювання температури на базі інверсії знаку двозаломлення ∆n та температурної залежності ∆n(T). Наведено відповідні характеристики деяких кристалів, які підтверджують високі метрологічні та експлуатаційні характеристики методу. Відзначається, що метод розв’язує деякі проблеми, що виникають перед термометрією на базі термоелектрики і термоопору, а також відкриває більш високі можливості вимірювань температури у важких умовах (в області високих електричних та магнітних полів, деталей, що обертаються і ін.).
|
|---|---|
| ISSN: | 1607-324X |