Crystal optical method for temperature measuring
A new crystal optical method for temperature measuring based on the sign inversion of birefringence ∆n and temperature dependence of ∆n(T) is substantiated. The respective characteristics of some crystals are presented, which confirm good metrological and exploitation properties of the method. I...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Condensed Matter Physics |
|---|---|
| Datum: | 2002 |
| Hauptverfasser: | , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики конденсованих систем НАН України
2002
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120660 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Crystal optical method for temperature measuring / M.O. Romanyuk, B. Andriyevsky, O. Kostetsky, M.M. Romanyuk, V. Stadnyk // Condensed Matter Physics. — 2002. — Т. 5, № 3(31). — С. 579-586. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | A new crystal optical method for temperature measuring based on the sign
inversion of birefringence ∆n and temperature dependence of ∆n(T)
is substantiated. The respective characteristics of some crystals are presented,
which confirm good metrological and exploitation properties of the
method. It is noted that the method solves some problems which arise in
thermometry based on thermoelectricity and thermoresistance. The proposed
method also gives better possibilities for measuring the temperature
in hard conditions (in the region of high electric and magnetic fields, rotating
workpieces etc.).
Обгрунтовується новий кристалооптичний метод вимірювання температури на базі інверсії знаку двозаломлення ∆n та температурної залежності ∆n(T). Наведено відповідні характеристики деяких кристалів, які підтверджують високі метрологічні та експлуатаційні характеристики методу. Відзначається, що метод розв’язує деякі проблеми, що виникають перед термометрією на базі термоелектрики і термоопору, а також відкриває більш високі можливості вимірювань температури у важких умовах (в області високих електричних та магнітних полів, деталей, що обертаються і ін.).
|
|---|---|
| ISSN: | 1607-324X |