Current states in an SNS junction for arbitrary thickness of the normal layer at temperatures close to critical

The behavior of the order parameter close to the superconductor-normal
 metal interface is researched. The thickness d of the normal layer is arbitrary
 and the temperature is close to critical. The method of quasiorthogonality
 to asymptotics is used to obtain boundary condi...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Condensed Matter Physics
Datum:2003
ISSN:1607-324X
Hauptverfasser: Sakhnyuk, V.E., Svidzinsky, A.V.
Format: Artikel
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Інститут фізики конденсованих систем НАН України 2003
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120692
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Current states in an SNS junction for
 arbitrary thickness of the normal layer
 at temperatures close to critical / V.E. Sakhnyuk, A.V. Svidzinsky // Condensed Matter Physics. — 2003. — Т. 6, № 1(33). — С. 159-167. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:The behavior of the order parameter close to the superconductor-normal
 metal interface is researched. The thickness d of the normal layer is arbitrary
 and the temperature is close to critical. The method of quasiorthogonality
 to asymptotics is used to obtain boundary conditions. The expression
 that describes the dependence of the current states on the normal layer’s
 thickness is obtained. Asymptotic forms of solution at large and at small d
 (relatively to the coherence length) are considered. Досліджено поведінку параметра порядку поблизу границі розділу нормального металу та надпровідника. Товщина d нормального металу вважається довільною, а температура близькою до критичної. Для одержання граничних умов використано метод квазіортогональності до асимптотики. Отримано залежність виразу для струму від товщини нормального прошарку, а також розглянуті його асимптотичні форми при великих і малих d в порівнянні з довжиною когерентності £₀ .
ISSN:1607-324X