Unbinding of surface defects under the defect-selective adsorption

Unbinding of surface topological defects in the presence of the defectselective
 adsorption is investigated using a coupled Coulomb Gas – Lattice
 Gas model. The unbinding temperature increases with the increasing
 selectivity (and coverage) for both, sign-dependent and sign-...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Condensed Matter Physics
Date:2003
ISSN:1607-324X
Main Author: Vakarin, E.V.
Format: Article
Language:English
Published: Інститут фізики конденсованих систем НАН України 2003
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120742
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Unbinding of surface defects under the
 defect-selective adsorption / E.V. Vakarin // Condensed Matter Physics. — 2003. — Т. 6, № 3(35). — С. 541-549. — Бібліогр.: 22 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Unbinding of surface topological defects in the presence of the defectselective
 adsorption is investigated using a coupled Coulomb Gas – Lattice
 Gas model. The unbinding temperature increases with the increasing
 selectivity (and coverage) for both, sign-dependent and sign-independent
 adsorption. In the latter case, the adsorbates tend to increase the number
 density of defects. The stability requirement implies that the adsorbate
 cluster size must be coherent with the screening length of free defects Досліджується вивільнення поверхневих дефектів при дефектно-селективній адсорбції, використовуючи комбінацію моделей ґраткового газу і кулонівського газу. Температура вивільнення зростає з ростом селективності як для знако-залежної, так і для знако-незалежної
 адсорбції. В останньому випадку адсорбат збільшує густину дефектів. Вимога стабільності вказує на те, що розмір кластера в адсорбаті має бути співмірним з довжиною екранування вільних дефектів.
ISSN:1607-324X