Unbinding of surface defects under the defect-selective adsorption

Unbinding of surface topological defects in the presence of the defectselective adsorption is investigated using a coupled Coulomb Gas – Lattice Gas model. The unbinding temperature increases with the increasing selectivity (and coverage) for both, sign-dependent and sign-independent adsorption....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Condensed Matter Physics
Datum:2003
1. Verfasser: Vakarin, E.V.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Інститут фізики конденсованих систем НАН України 2003
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120742
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Unbinding of surface defects under the defect-selective adsorption / E.V. Vakarin // Condensed Matter Physics. — 2003. — Т. 6, № 3(35). — С. 541-549. — Бібліогр.: 22 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Unbinding of surface topological defects in the presence of the defectselective adsorption is investigated using a coupled Coulomb Gas – Lattice Gas model. The unbinding temperature increases with the increasing selectivity (and coverage) for both, sign-dependent and sign-independent adsorption. In the latter case, the adsorbates tend to increase the number density of defects. The stability requirement implies that the adsorbate cluster size must be coherent with the screening length of free defects Досліджується вивільнення поверхневих дефектів при дефектно-селективній адсорбції, використовуючи комбінацію моделей ґраткового газу і кулонівського газу. Температура вивільнення зростає з ростом селективності як для знако-залежної, так і для знако-незалежної адсорбції. В останньому випадку адсорбат збільшує густину дефектів. Вимога стабільності вказує на те, що розмір кластера в адсорбаті має бути співмірним з довжиною екранування вільних дефектів.
ISSN:1607-324X