Температурные аномалии электрического сопротивления и термоэлектродвижущей силы поликристаллической меди, подвергнутой пластической деформации

• Veröffentlicht in: Физика низких температур
• Datum: 2005
• Hauptverfasser: Дмитриев, В.М., Пренцлау, Н.Н., Светлов, В.Н., Степанов, В.Б.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2005
• Schlagworte: Электpонные свойства металлов и сплавов
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120778
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Температурные аномалии электрического сопротивления и термоэлектродвижущей силы поликристаллической меди, подвергнутой пластической деформации / В.М. Дмитриев, Н.Н. Пренцлау, В.Н. Светлов, В.Б. Степанов // Физика низких температур. — 2005. — Т. 31, № 1. — С. 94-98. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.

Представлены результаты экспериментального исследования в температурном интервале
 4,2–300 К удельного электросопротивления (ρ) и термоэдс образцов электротехнической меди,
 подвергнутых пластической деформации при комнатной температуре. Обнаружен ряд коррелирующих
 между собой аномалий на температурных зависимостях ρ и термоэдс, связанных с дислокациями.
 Вероятная причина этих аномалий — резонансное рассеяние свободных электронов
 и тепловых фононов на локализованных вблизи дислокаций электронах. Представлено результати експериментального дослідження в температурному інтервалі
 4,2–300 К питомого електричного опору (ρ) та термоерс зразків електротехнічної міді, що
 підлягала пластичної деформації при кімнатній температурі. Виявлено ряд корелюючих між
 собою аномалій на температурних залежностях ρ та термоерс, пов’язаних з дислокаціями.
 Імовірною причиною цих аномалій є резонансне розсіювання вільних електронів та теплових
 фононів на локалізованих поблизу дислокацій електронах. Electric resistivity, ρ, and thermoelectromotive
 force (TEMF) of commercial Cu samples subjected
 to plastic strain at room temperature were measured
 at temperatures ranged from 4.2 to 300 K. A
 number of mutually correlated dislocation-induced
 anomalies were detected in the temperature dependences
 ρ and TEMF. It is likely that the anomalies
 are caused by the resonance scattering of free
 electrons and thermal phonons by dislocation-localized
 electrons.