Исследование подвижности малых кластеров меди на буферном слое Xe при температурах 30–70 К

Методом компьютерного моделирования исследован процесс миграции малых кластеров
 меди по поверхности (111) твердого ксенона. Получены коэффициенты диффузии стабильных
 кластеров для температур 30–70 К. Установлено, что кластеры меди из четырех, шести и семи
 атомов за время м...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физика низких температур
Date:2006
Main Authors: Марченко, И.Г., Неклюдов, И.М.
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2006
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120781
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Исследование подвижности малых кластеров меди на
 буферном слое Xe при температурах 30–70 К / И.Г. Марченко, И.М. Неклюдов // Физика низких температур. — 2006. — Т. 32, № 10. — С. 1262–1266. — Бібліогр.: 20 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Методом компьютерного моделирования исследован процесс миграции малых кластеров
 меди по поверхности (111) твердого ксенона. Получены коэффициенты диффузии стабильных
 кластеров для температур 30–70 К. Установлено, что кластеры меди из четырех, шести и семи
 атомов за время менее 3 нс внедряются в подложку, вытесняя атом Xe. Полученные данные позволяют по-новому интерпретировать результаты проведенных ранее экспериментов. Методом комп’ютерного моделювання досліджено процес міграції малих кластерів міді по
 поверхні (111) твердого ксенону. Отримано коефіцієнти дифузії стабільних кластерів для температур 30–70 К. Встановлено, що кластери міді із чотирьох, шести й семи атомів за час менш
 3 нс впроваджуються в підкладку, витісняючи атом Xe. Отримані дані дозволяють по-новому
 інтерпретувати результати проведених раніше експериментів. The process of small copper cluster migration
 on the solid xenon surface (111) is investigated
 by computer simulation. The coefficients of stable
 cluster diffusion are determined for temperatures
 from 30 to 70 K. It has been established
 that during the time less than 3 ns the copper
 clusters of 4, 6 and 7 atoms penetrate into the
 substrate and substitute the Xe atom. The data
 obtained enable a new interpretation of previous
 results.
ISSN:0132-6414