Исследование подвижности малых кластеров меди на буферном слое Xe при температурах 30–70 К
Методом компьютерного моделирования исследован процесс миграции малых кластеров
 меди по поверхности (111) твердого ксенона. Получены коэффициенты диффузии стабильных
 кластеров для температур 30–70 К. Установлено, что кластеры меди из четырех, шести и семи
 атомов за время м...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика низких температур |
|---|---|
| Datum: | 2006 |
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2006
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120781 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Исследование подвижности малых кластеров меди на
 буферном слое Xe при температурах 30–70 К / И.Г. Марченко, И.М. Неклюдов // Физика низких температур. — 2006. — Т. 32, № 10. — С. 1262–1266. — Бібліогр.: 20 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Методом компьютерного моделирования исследован процесс миграции малых кластеров
меди по поверхности (111) твердого ксенона. Получены коэффициенты диффузии стабильных
кластеров для температур 30–70 К. Установлено, что кластеры меди из четырех, шести и семи
атомов за время менее 3 нс внедряются в подложку, вытесняя атом Xe. Полученные данные позволяют по-новому интерпретировать результаты проведенных ранее экспериментов.
Методом комп’ютерного моделювання досліджено процес міграції малих кластерів міді по
поверхні (111) твердого ксенону. Отримано коефіцієнти дифузії стабільних кластерів для температур 30–70 К. Встановлено, що кластери міді із чотирьох, шести й семи атомів за час менш
3 нс впроваджуються в підкладку, витісняючи атом Xe. Отримані дані дозволяють по-новому
інтерпретувати результати проведених раніше експериментів.
The process of small copper cluster migration
on the solid xenon surface (111) is investigated
by computer simulation. The coefficients of stable
cluster diffusion are determined for temperatures
from 30 to 70 K. It has been established
that during the time less than 3 ns the copper
clusters of 4, 6 and 7 atoms penetrate into the
substrate and substitute the Xe atom. The data
obtained enable a new interpretation of previous
results.
|
|---|---|
| ISSN: | 0132-6414 |