Analysis of luminescence method for determination of Cd₁₋xZnxTe composition
A detailed analysis of the method for determination of Cd₁₋xZnxTe composition x from measurements of 4.2 K peak position of the emission band induced by annihilation of excitons bound with neutral shallow acceptors is given. Found are the conditions fulfillment of which permits to obtain reliable x...
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| Veröffentlicht in: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Datum: | 2005 |
| Hauptverfasser: | Glinchuk, K.D., Litovchenko, N.M., Prokhorovich, A.V., Strilchuk, O.N. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2005
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120964 |
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| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Analysis of luminescence method for determination of Cd₁₋xZnxTe composition / K.D. Glinchuk, N.M. Litovchenko, A.V. Prokhorovich, O.N. Strilchuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2005. — Т. 8, № 3. — С. 39-44. — Бібліогр.: 18 назв. — англ. |
Institution
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