APA (7th ed.) Citation

Haccart, T., Cattan, E., & Remiens, D. (2002). Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates: Influence of film thickness and orientation. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Haccart, T., E. Cattan, and D. Remiens. Dielectric, Ferroelectric and Piezoelectric Properties of Sputtered PZT Thin Films on Si Substrates: Influence of Film Thickness and Orientation. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2002.

MLA (8th ed.) Citation

Haccart, T., et al. Dielectric, Ferroelectric and Piezoelectric Properties of Sputtered PZT Thin Films on Si Substrates: Influence of Film Thickness and Orientation. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2002.