Photoinduced structural changes in As₁₀₀₋xSx layers
The present paper is concerned with investigations of photoinduced structural changes in As100-xSx layers. Optical constants of variously treated (virgin, exposed, annealed) samples were determined from optical transmission measurements in the spectral region 400-2500 nm. The energy dependence of re...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2000 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2000
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121137 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Photoinduced structural changes in As₁₀₀₋xSx layers / A. Stronski, M. Vlcek, A. Sklenar // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 3. — С. 394-399. — Бібліогр.: 29 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineБудьте першим, хто залишить коментар!