Стиль цитування APA (7-ме видання)

Lysenko, V., Tyagulski, I., Gomeniuk, Y., & Osiyuk, I. (2000). Effect of the charge state of traps on the transport current in the SiC/Si heterostructure. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Lysenko, V.S, I.P Tyagulski, Y.V Gomeniuk, та I.N Osiyuk. Effect of the Charge State of Traps on the Transport Current in the SiC/Si Heterostructure. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2000.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Lysenko, V.S, et al. Effect of the Charge State of Traps on the Transport Current in the SiC/Si Heterostructure. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2000.