APA (7th ed.) Citation

Lysenko, V., Tyagulski, I., Gomeniuk, Y., & Osiyuk, I. (2000). Effect of the charge state of traps on the transport current in the SiC/Si heterostructure. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Lysenko, V.S, I.P Tyagulski, Y.V Gomeniuk, and I.N Osiyuk. Effect of the Charge State of Traps on the Transport Current in the SiC/Si Heterostructure. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2000.

MLA (8th ed.) Citation

Lysenko, V.S, et al. Effect of the Charge State of Traps on the Transport Current in the SiC/Si Heterostructure. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2000.