Зображення обкладинки

Effect of the charge state of traps on the transport current in the SiC/Si heterostructure

Forward and reverse currents in the heterostructure “amorphous SiC/p-Si” were studied in the temperature range 30 – 80 K. It has been found that in different ranges of the applied voltage the transport current is described by different mechanisms. Charging the electron traps situated in the SiC laye...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:2000
Автори: Lysenko, V.S., Tyagulski, I.P., Gomeniuk, Y.V., Osiyuk, I.N.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2000
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121165
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Effect of the charge state of traps on the transport current in the SiC/Si heterostructure / V.S. Lysenko, I.P. Tyagulski, Y.V. Gomeniuk, I.N. Osiyuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 3. — С. 330-337. — Бібліогр.: 19 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Схожі ресурси