Зображення обкладинки

Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion

Calculative method based on the Riccatti type differential equation was tested for simulation of low angle X-ray diffraction patterns from the one-dimensionally ordered multilayer. Some peculiarities of diffraction were revealed connected with asymmetrical distortion of the multilayer profile due to...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в:	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:	2000
ISSN:	1560-8034
Автор:	Fedorov, A.G.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2000
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121196
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion / A.G. Fedorov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 4. — С. 554-557. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Geometrical characteristics of detonation diamond particles by the data of small-angle X-ray scattering
за авторством: A. P. Voznjakovskij, та інші
Опубліковано: (2015)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)

X-ray diffraction (XRD) patterns for distinct hydroxyapatite samples
за авторством: Yevhen Kuzenko, та інші
Опубліковано: (2026)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

Computer simulation of diffusion transport processes in multilayer nanofilms
за авторством: Petryk, M.R., та інші
Опубліковано: (2024)

Growth and structure of WC/Si multilayer x-ray mirror
за авторством: Pershyn, Y.P., та інші
Опубліковано: (2018)

Small-angle x-ray scattering study of donets basin coals
за авторством: A. K. Kirillov
Опубліковано: (2011)

Intercalation of fullerite C₆₀ with N₂ molecules. An investigation by x-ray powder diffraction
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)

Investigation of the structure of interlayer interfaces in multilayer periodic compositions of Cr/Sc and Co/C by the method X-ray diffuse scattering
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2011)

Study of the structural features of multilayer carbon nanotubes by X-ray analysis
за авторством: E. A. Lysenkov, та інші
Опубліковано: (2015)

Wave Diffraction by Periodic Multilayered Structures
за авторством: Lytvynenko, L.M., та інші
Опубліковано: (2005)

Wave Diffraction by Periodic Multilayered Structures
за авторством: Litvinenko, L. M., та інші
Опубліковано: (2013)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)

X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)

Features of diffusion mixing in Mo/Si multilayers
за авторством: Penkov, A.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)

X-ray diffraction study of atomic long-range order of Fe-AI alloy
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)

The theory of the line profile based on the absorption of X-ray diffraction and its experimental demonstration
за авторством: Liu Kejia, та інші
Опубліковано: (2016)

Growing and X-ray diffraction pattern of single-crystal double phosphate Li₂Mn(PO₃)₄
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS₃ from x-ray diffraction data
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)

X-ray characterization of ZnSe single crystals doped with Mg
за авторством: Fedorov, A.G., та інші
Опубліковано: (2001)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

Application of carbon as a barrier layer in Sc/Si multilayer X-ray mirrors
за авторством: Pershyn, Yu.P., та інші
Опубліковано: (2018)

X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al₂O₃ (0001) substrates
за авторством: Safriuk, N.V., та інші
Опубліковано: (2013)

Residual stresses in Ti₄₁¸₅Zr₄₁¸₅Ni₁₇ quasi-crystalline ribbons measured by X-ray diffraction
за авторством: Malykhin, S.
Опубліковано: (2007)

Diffraction Efficiency of Second Order Bragg Diffraction at Interaction of Light with Ultrasound under Double Bragg’s Angle
за авторством: Kupchenko, L. F., та інші
Опубліковано: (2013)