Modelling of micro- and nanodomain arrays recorded in ferroelectrics-semiconductors by using atomic force microscopy
The thermodynamical theory of nanodomain tailoring in ferroelectrics-semiconductors allowing for semiconducting properties, screening and size effects is presented. The obtained analytical results prove that domains appearance is similar to the first order phase transition and completely agree with...
Збережено в:
| Опубліковано в: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2006 |
| ISSN: | 1560-8034 |
| Автор: | Morozovska, A.N. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2006
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121428 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Modelling of micro- and nanodomain arrays recorded in ferroelectrics-semiconductors by using atomic force microscopy / A.N. Morozovska // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2006. — Т. 9, № 2. — С. 26-33. — Бібліогр.: 43 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
Pyroelectric response of inhomogeneous ferroelectric-semiconductor films
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2007)
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2007)
Modelling of pyroelectric response in inhomogeneous ferroelectric-semiconductor films
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2006)
Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
за авторством: Ye. A. Yelisieiev
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ye. A. Yelisieiev
Опубліковано: (2015)
Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
за авторством: E. A. Eliseev
Опубліковано: (2015)
за авторством: E. A. Eliseev
Опубліковано: (2015)
The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2008)
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2008)
Partial polarization switching in ferroelectrics-semiconductors with charged defects
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)
Determination of adhesion strength of thin oxide coatings on dielectric materials by the method of atomic force microscopy
за авторством: S. A. Bilokon, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: S. A. Bilokon, та інші
Опубліковано: (2014)
Formation of wear-resistant coatings on silicon probes for atomic force microscopy by thermal vacuum evaporation
за авторством: V. S. Antoniuk, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: V. S. Antoniuk, та інші
Опубліковано: (2015)
Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”
за авторством: Vo Thanh Tung, та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Vo Thanh Tung, та інші
Опубліковано: (2008)
The use of chalcogenide glassy semiconductors to create micro- and nanoscale structures
за авторством: Petrov, V. V., та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Petrov, V. V., та інші
Опубліковано: (2020)
On features of crystal structure of semiconductor-ferroelectric Ag₃AsS₃
за авторством: Borovoy, N., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Borovoy, N., та інші
Опубліковано: (2013)
The use of chalcogenide glassy semiconductors to create micro- and nanoscale structures
за авторством: V. V. Petrov, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: V. V. Petrov, та інші
Опубліковано: (2020)
Influence of elastic deformation on local current characteristics of separate Ge nanoclusters on Si investigated by conducting atomic force microscopy
за авторством: Ju. Rubezhanskaja
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ju. Rubezhanskaja
Опубліковано: (2012)
Peculiarities of the PbTe nano-islet formation on BaF₂ substrate at "hot wall" epitaxy method investigated by atomic force microscopy
за авторством: Sheremeta, T.I., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Sheremeta, T.I., та інші
Опубліковано: (2007)
Polar properties and hysteresis loops in multilayered thin films ferroelectric/virtual ferroelectric
за авторством: E. A. Eliseev, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: E. A. Eliseev, та інші
Опубліковано: (2012)
On features of crystal structure of semiconductor-ferroelectric Ag3AsS3
за авторством: N. Borovoy, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: N. Borovoy, та інші
Опубліковано: (2013)
Study of probe methods for fabrication of units for nanoelectronic devices and diagnostic technique using electrostatic force microscopy
за авторством: N. I. Khodakovskij, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: N. I. Khodakovskij, та інші
Опубліковано: (2011)
Optical recording of information pits in thin layers of chalcogenide semiconductors
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)
Atomic force microscopy images of [Fe/I]n discontinious multilayers (I = SiO2, MgO, HfO2)
за авторством: Pazukha, Iryna, та інші
Опубліковано: (2026)
за авторством: Pazukha, Iryna, та інші
Опубліковано: (2026)
Polar properties and hysteresis loops in multilayered thin films ferroelectric/virtual ferroelectric
за авторством: Ye. A. Yelisieiev, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ye. A. Yelisieiev, та інші
Опубліковано: (2012)
Formation and properties of intercalatal nanostructures of an inorganic semiconductor/ferroelectric liquid crystal
за авторством: T. M. Bishchaniuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: T. M. Bishchaniuk, та інші
Опубліковано: (2013)
Image infrared converters based on ferroelectric- semiconductor thin-layer systems
за авторством: Sosnin, A.
Опубліковано: (2000)
за авторством: Sosnin, A.
Опубліковано: (2000)
Experimental study on fabricating micro-hole arrays on CVD diamond film using a nanosecond pulsed laser
за авторством: Ya. Liao, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: Ya. Liao, та інші
Опубліковано: (2021)
Experimental study on fabricating micro-hole arrays on CVD diamond film using a nanosecond pulsed laser
за авторством: J. Wang, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: J. Wang, та інші
Опубліковано: (2021)
Dynamics of photoinduced instability in ferroelectric photorefractive crystals
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2001)
Spatial-temporal peculiarities of periodical PILS in ferroelectric PR-crystals
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2003)
Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable Q-factor in two modes operation: "intermittent contact" and "shear-force"
за авторством: Vo Thanh Tung, та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Vo Thanh Tung, та інші
Опубліковано: (2008)
Simulation of energy states in solid solutions based on the ferroelectrics- semiconductors of Sn₂P₂S₆ type
за авторством: Mitin, O.B., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Mitin, O.B., та інші
Опубліковано: (2000)
Dependence of soft phonon spectra on flexoelectric coupling in ferroelectrics
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2018)
Dependence of soft phonon spectra on flexoelectric coupling in ferroelectrics
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2018)
Dielectric response of disordered ferroelectrics with embedded charged clusters
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2003)
Domain structure formation by using Scanning Probe Microscopy: equilibrium polarization distribution and effective piezoelectric response calculations
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2009)
Polar properties and local piezoelectric response of ferroelectric nanotubes
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2008)
Modeling of information recording and selective etching processes in inorganic resists
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2005)
Ultrasonic assisted nanomanipulations with atomic force microscope
за авторством: P. M. Lytvyn, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: P. M. Lytvyn, та інші
Опубліковано: (2010)
Ultrasonic assisted nanomanipulations with atomic force microscope
за авторством: Lytvyn, P.M., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Lytvyn, P.M., та інші
Опубліковано: (2010)
Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)
Mathematical model of photoacoustic microscopy with piezoelectric detection
за авторством: Vertsanova, E.V., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Vertsanova, E.V., та інші
Опубліковано: (1999)
Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions
за авторством: Fodchuk, I.M., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Fodchuk, I.M., та інші
Опубліковано: (2013)
Схожі ресурси
-
Pyroelectric response of inhomogeneous ferroelectric-semiconductor films
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2007) -
Modelling of pyroelectric response in inhomogeneous ferroelectric-semiconductor films
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2006) -
Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
за авторством: Ye. A. Yelisieiev
Опубліковано: (2015) -
Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
за авторством: E. A. Eliseev
Опубліковано: (2015) -
The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2008)