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Degradation processes in LED modules

Electrical-heat-light degradation model of a light-emitting module has been developed in this work. The Monte-Carlo method was used to calculate the reliability time of LED modules with different halfwidth of LED chip series resistance. Separation of LED chips with different series resistance before...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:	2016
Hauptverfasser:	Sorokin, V.M., Kudryk, Ya.Ya., Shynkarenko, V.V., Kudryk, R.Ya., Sai, P.O.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2016
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121585
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Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Degradation processes in LED modules / V.M. Sorokin, Ya.Ya. Kudryk, V.V. Shynkarenko, R.Ya. Kudryk, P.O. Sai // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2016. — Т. 19, № 3. — С. 248-254. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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