Odarych, V., Sarsembaeva, A., Vuichyk, M., & Sizov, F. (2006). Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Odarych, V.A, A.Z Sarsembaeva, M.V Vuichyk, та F.F Sizov. "Determination of Parameters of Cadmium Telluride Films on Silicon by the Methods of Main Angle and Multiangular Ellipsometry." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2006.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Odarych, V.A, et al. "Determination of Parameters of Cadmium Telluride Films on Silicon by the Methods of Main Angle and Multiangular Ellipsometry." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2006.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.