Belousov, I., Grib, A., & Kuznetsov, G. (2006). The influence of surface defects on the pinhole formation in silicide thin film. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Belousov, I.V, A.N Grib, und G.V Kuznetsov. The Influence of Surface Defects on the Pinhole Formation in Silicide Thin Film. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2006.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Belousov, I.V, et al. The Influence of Surface Defects on the Pinhole Formation in Silicide Thin Film. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2006.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.