Belousov, I., Grib, A., & Kuznetsov, G. (2006). The influence of surface defects on the pinhole formation in silicide thin film. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Belousov, I.V, A.N Grib, та G.V Kuznetsov. The Influence of Surface Defects on the Pinhole Formation in Silicide Thin Film. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2006.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Belousov, I.V, et al. The Influence of Surface Defects on the Pinhole Formation in Silicide Thin Film. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2006.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.