Kolomzarov, Y., Oleksenko, P., Sorokin, V., Tytarenko, P., & Zelinskyy, R. (2006). Disappearance of aligning properties of deposited SiOx films as caused by external factors. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Kolomzarov, Yu, P. Oleksenko, V. Sorokin, P. Tytarenko, та R. Zelinskyy. "Disappearance of Aligning Properties of Deposited SiOx Films as Caused by External Factors." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2006.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Kolomzarov, Yu, et al. "Disappearance of Aligning Properties of Deposited SiOx Films as Caused by External Factors." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2006.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.