Conductivity and photoconductivity peculiarities observed in C₆₀ layers
Thin layers of various thickness prepared from C60 with traces of C70 were studied. They were deposited by thermal evaporation on quartz, glass, p-Si or n-Si substrates. An apparatus fixing current values every 3 ms was used to measure and register the kinetics of layer conductivity and photoconduct...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2006 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2006
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121627 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Conductivity and photoconductivity peculiarities observed in C₆₀ layers / St. Kanev, Z. Nenova, N. Koprinarov, K. Ivanova // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2006. — Т. 9, № 4. — С. 17-20. — Бібліогр.: 16 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineБудьте першим, хто залишить коментар!