Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне

В настоящей работе предлагается методика расчета шумовых характеристик усилителей на полевых транзисторах с барьером Шоттки, включая HEMT-структуры. Основой методики является использование обобщенных характеристик транзисторной структуры, названных макропараметрами. Они инвариантны относительно разм...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Радиофизика и радиоастрономия
Datum:2002
1. Verfasser: Королев, А.М.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Радіоастрономічний інститут НАН України 2002
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122325
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне / А.М. Королев // Радиофизика и радиоастрономия. — 2002. — Т. 7, № 3. — С. 273-288. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862567626222338048
author Королев, А.М.
author_facet Королев, А.М.
citation_txt Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне / А.М. Королев // Радиофизика и радиоастрономия. — 2002. — Т. 7, № 3. — С. 273-288. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Радиофизика и радиоастрономия
description В настоящей работе предлагается методика расчета шумовых характеристик усилителей на полевых транзисторах с барьером Шоттки, включая HEMT-структуры. Основой методики является использование обобщенных характеристик транзисторной структуры, названных макропараметрами. Они инвариантны относительно размерного масштабирования, слабо зависят от режима по постоянному току и могут измеряться низкочастотной аппаратурой. Единственный феноменологический параметр (F) вводится как характеристика крупного структурно-технологического класса FET (F ≈ 0.4 для MESFET, F ≈ 0.6 для HEMT, F ≈ 0.7 для PHEMT). На основе метода макропараметров для узкозатворных транзисторных структур в дециметровом диапазоне определены критерии реализуемости режима согласования на минимум шум-фактора с учетом свойств входного индуктивного элемента как отрезка специфической линии передачи. У цій роботі пропонується методика розрахунку шумових характеристик підсилювачів на польових транзисторах з бар’єром Шоттки, включаючи HEMT-структури. Базою методики є використання узагальнених характеристик транзисторної структури, названих мікропараметрами. Вони інваріантні відносно розмірного масштабування, слабо залежать від режиму по постійному струму і можуть вимірюватись низькочастотною апаратурою. Єдиний феноменологічний параметр (F) вводиться як характеристика крупного структурно-технологічного класу FET (F ≈ 0.4 для MESFET, F ≈ 0.6 для HEMT, F ≈ 0.7 для PHEMT). На базі методу макропараметрів для вузькозатворних транзисторних структур в дециметровому діапазоні визначені критерії можливості реалізації режиму узгодження на мінімум шум-фактора, зважаючи на властивості індуктивного елемента як відрізка специфічної лінії передачі. Novel method for deriving the noise characteristics of FET (including HEMT) amplifier is presented. It is based on generalized FET characteristics, denoted as macroparameters. They are invariant to scaling, measurable by rf-instruments and have only a weak dependence on dc-conditions. The sole phenomenological parameter (F) is introduced as characteristics of a large structural class of FETs (F ≈ 0.4 for MESFET, F ≈ 0.6 for HEMT and F ≈ 0.7 for PHEMT). Based on the "macroparameter approach" and taking into account the properties of input inductor as a distinctive transmission line, the conditions for minimum noise temperature realization are determined for moderately-long-gate transistors over the frequency range from 0.3 to 5 GHz.
first_indexed 2025-11-26T00:10:47Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-122325
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1027-9636
language Russian
last_indexed 2025-11-26T00:10:47Z
publishDate 2002
publisher Радіоастрономічний інститут НАН України
record_format dspace
spelling Королев, А.М.
2017-07-02T11:13:45Z
2017-07-02T11:13:45Z
2002
Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне / А.М. Королев // Радиофизика и радиоастрономия. — 2002. — Т. 7, № 3. — С. 273-288. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.
1027-9636
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122325
621.375.029
В настоящей работе предлагается методика расчета шумовых характеристик усилителей на полевых транзисторах с барьером Шоттки, включая HEMT-структуры. Основой методики является использование обобщенных характеристик транзисторной структуры, названных макропараметрами. Они инвариантны относительно размерного масштабирования, слабо зависят от режима по постоянному току и могут измеряться низкочастотной аппаратурой. Единственный феноменологический параметр (F) вводится как характеристика крупного структурно-технологического класса FET (F ≈ 0.4 для MESFET, F ≈ 0.6 для HEMT, F ≈ 0.7 для PHEMT). На основе метода макропараметров для узкозатворных транзисторных структур в дециметровом диапазоне определены критерии реализуемости режима согласования на минимум шум-фактора с учетом свойств входного индуктивного элемента как отрезка специфической линии передачи.
У цій роботі пропонується методика розрахунку шумових характеристик підсилювачів на польових транзисторах з бар’єром Шоттки, включаючи HEMT-структури. Базою методики є використання узагальнених характеристик транзисторної структури, названих мікропараметрами. Вони інваріантні відносно розмірного масштабування, слабо залежать від режиму по постійному струму і можуть вимірюватись низькочастотною апаратурою. Єдиний феноменологічний параметр (F) вводиться як характеристика крупного структурно-технологічного класу FET (F ≈ 0.4 для MESFET, F ≈ 0.6 для HEMT, F ≈ 0.7 для PHEMT). На базі методу макропараметрів для вузькозатворних транзисторних структур в дециметровому діапазоні визначені критерії можливості реалізації режиму узгодження на мінімум шум-фактора, зважаючи на властивості індуктивного елемента як відрізка специфічної лінії передачі.
Novel method for deriving the noise characteristics of FET (including HEMT) amplifier is presented. It is based on generalized FET characteristics, denoted as macroparameters. They are invariant to scaling, measurable by rf-instruments and have only a weak dependence on dc-conditions. The sole phenomenological parameter (F) is introduced as characteristics of a large structural class of FETs (F ≈ 0.4 for MESFET, F ≈ 0.6 for HEMT and F ≈ 0.7 for PHEMT). Based on the "macroparameter approach" and taking into account the properties of input inductor as a distinctive transmission line, the conditions for minimum noise temperature realization are determined for moderately-long-gate transistors over the frequency range from 0.3 to 5 GHz.
ru
Радіоастрономічний інститут НАН України
Радиофизика и радиоастрономия
Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне
Peculiarities of FET Matching for Low-Noise Operation in Decimeter Range
Article
published earlier
spellingShingle Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне
Королев, А.М.
title Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне
title_alt Peculiarities of FET Matching for Low-Noise Operation in Decimeter Range
title_full Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне
title_fullStr Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне
title_full_unstemmed Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне
title_short Особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне
title_sort особенности согласования полевых транзисторных структур на минимум шум-фактора в дециметровом диапазоне
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122325
work_keys_str_mv AT korolevam osobennostisoglasovaniâpolevyhtranzistornyhstrukturnaminimumšumfaktoravdecimetrovomdiapazone
AT korolevam peculiaritiesoffetmatchingforlownoiseoperationindecimeterrange