Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si
Электронно-микроскопическими и рентгенодифракционными методами исследована структура многослойных рентгеновских зеркал (МРЗ) W/Mg₂Si. Показано, что в процессе изготовления МРЗ W/Mg₂Si наблюдается межслоевое взаимодействие, в результате которого формируется перемешанная зона на границе Mg₂Si-W из сил...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Журнал физики и инженерии поверхности |
|---|---|
| Дата: | 2017 |
| Автори: | , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2017
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122605 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si / Л.Е. Конотопский, И.А. Копылец, В.А. Севрюкова, Е.Н. Зубарев, В.В. Мамон, В.В. Кондратенко // Журнал физики и инженерии поверхности. — 2017. — Т. 2, № 1. — С. 20-28. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862545705641443328 |
|---|---|
| author | Конотопский, Л.Е. Копылец, И.А. Севрюкова, В.А. Зубарев, Е.Н. Мамон, В.В. Кондратенко, В.В. |
| author_facet | Конотопский, Л.Е. Копылец, И.А. Севрюкова, В.А. Зубарев, Е.Н. Мамон, В.В. Кондратенко, В.В. |
| citation_txt | Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si / Л.Е. Конотопский, И.А. Копылец, В.А. Севрюкова, Е.Н. Зубарев, В.В. Мамон, В.В. Кондратенко // Журнал физики и инженерии поверхности. — 2017. — Т. 2, № 1. — С. 20-28. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Журнал физики и инженерии поверхности |
| description | Электронно-микроскопическими и рентгенодифракционными методами исследована структура многослойных рентгеновских зеркал (МРЗ) W/Mg₂Si. Показано, что в процессе изготовления МРЗ W/Mg₂Si наблюдается межслоевое взаимодействие, в результате которого формируется перемешанная зона на границе Mg₂Si-W из силицида вольфрама. Установлено, что состав перемешанной зоны зависит от толщины слоев, составляющих период рентгеновского зеркала. В МРЗ W/Mg₂Si с периодом 3,1 нм формируется перемешанная зона силицида вольфрама с преимущественным содержанием вольфрама: W₃Si и/или W₅Si₃. В МРЗ с периодом 14,2 нм состав перемешанной зоны близок к WSi₂. Плотности перемешанных зон в МРЗ W/Mg₂Si с периодами 3,1 нм и 14,2 нм составляют 16,1 г/см³ и 8,2 г/см³ соответственно. Проведена оценка оптических свойств МРЗ W/Mg₂Si. Показано, что на длине волны 9,89 нм отражательная способность неоптимизированного по конструкции МРЗ W/Mg₂Si находится на уровне с оптимизированным МРЗ W/B₄C.
Електронно-мікроскопічними та рентгенодифракційними методами досліджено структуру багатошарових рентгенівських дзеркал (БРД) W/Mg₂Si. Показано, що підчас виготовлення БРД W/Mg₂Si спостерігається міжшарова взаємодія, в результаті якої формується змішана зона на границі Mg₂Si-W з силіциду вольфраму. Встановлено, що склад змішаних зон залежить від товщини шарів, що складають період рентгенівського дзеркала. У БРД W/Mg₂Si з періодом 3,1 нм формується змішана зона силіциду вольфраму з переважним вмістом кремнію: W₃Si та/або W₅Si₃. У БРД з періодом 14,2 нм склад змішаної зони близький до WSi₂. Щільність змішаних зон у БРД W/Mg₂Si з періодами 3,1 нм та 14,2 нм складає 16,1 г/см³ та 8,2 г/см³ відповідно. Оцінені оптичні властивості БРД W/Mg₂Si. Показано, що на довжині хвилі 9,89 нм відбивна здатність не оптимізованого по конструкції БРД W/Mg₂Si знаходиться на рівні з оптимізованим БРД W/B₄C.
Transmission electron microscopy and low-angle X-ray diffraction methods are used for investigations of W/Mg₂Si multilayers structure. It is shown that due to interlayer interaction mixed zones of tungsten silicide are formed on the Mg₂Si-W interface during deposition of W/Mg₂Si multilayers. It is found that the composition of the mixed zones depends on thickness of the layers in X-ray mirror. In the W/Mg₂Si multilayers with period of 3.1 nm the intermixed zones of tungsten silicide with the predominant content of tungsten namely W₃Si and/or W₅Si₃, can be formed. In the multilayers with a period of 14.2 nm the composition of mixed zones is close to WSi₂. Densities of mixed zones in multilayers with periods of 3.1 nm and 14.2 nm are 16.1 g/cm³ and 8.2 g/cm³ respectively. It is shown that reflectivity of the non-optimized in construction W/Mg₂Si multilayer at wavelength of 9.89 nm is close to that of optimized W/B₄C multilayer.
|
| first_indexed | 2025-11-25T06:45:28Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-122605 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2519-2485 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-25T06:45:28Z |
| publishDate | 2017 |
| publisher | Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Конотопский, Л.Е. Копылец, И.А. Севрюкова, В.А. Зубарев, Е.Н. Мамон, В.В. Кондратенко, В.В. 2017-07-15T14:30:16Z 2017-07-15T14:30:16Z 2017 Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si / Л.Е. Конотопский, И.А. Копылец, В.А. Севрюкова, Е.Н. Зубарев, В.В. Мамон, В.В. Кондратенко // Журнал физики и инженерии поверхности. — 2017. — Т. 2, № 1. — С. 20-28. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. 2519-2485 PACS: 07.85.Fv, 61.05.cm, 61.05.cf, 68.37.Og, 68.65.Ac https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122605 539.216.2 Электронно-микроскопическими и рентгенодифракционными методами исследована структура многослойных рентгеновских зеркал (МРЗ) W/Mg₂Si. Показано, что в процессе изготовления МРЗ W/Mg₂Si наблюдается межслоевое взаимодействие, в результате которого формируется перемешанная зона на границе Mg₂Si-W из силицида вольфрама. Установлено, что состав перемешанной зоны зависит от толщины слоев, составляющих период рентгеновского зеркала. В МРЗ W/Mg₂Si с периодом 3,1 нм формируется перемешанная зона силицида вольфрама с преимущественным содержанием вольфрама: W₃Si и/или W₅Si₃. В МРЗ с периодом 14,2 нм состав перемешанной зоны близок к WSi₂. Плотности перемешанных зон в МРЗ W/Mg₂Si с периодами 3,1 нм и 14,2 нм составляют 16,1 г/см³ и 8,2 г/см³ соответственно. Проведена оценка оптических свойств МРЗ W/Mg₂Si. Показано, что на длине волны 9,89 нм отражательная способность неоптимизированного по конструкции МРЗ W/Mg₂Si находится на уровне с оптимизированным МРЗ W/B₄C. Електронно-мікроскопічними та рентгенодифракційними методами досліджено структуру багатошарових рентгенівських дзеркал (БРД) W/Mg₂Si. Показано, що підчас виготовлення БРД W/Mg₂Si спостерігається міжшарова взаємодія, в результаті якої формується змішана зона на границі Mg₂Si-W з силіциду вольфраму. Встановлено, що склад змішаних зон залежить від товщини шарів, що складають період рентгенівського дзеркала. У БРД W/Mg₂Si з періодом 3,1 нм формується змішана зона силіциду вольфраму з переважним вмістом кремнію: W₃Si та/або W₅Si₃. У БРД з періодом 14,2 нм склад змішаної зони близький до WSi₂. Щільність змішаних зон у БРД W/Mg₂Si з періодами 3,1 нм та 14,2 нм складає 16,1 г/см³ та 8,2 г/см³ відповідно. Оцінені оптичні властивості БРД W/Mg₂Si. Показано, що на довжині хвилі 9,89 нм відбивна здатність не оптимізованого по конструкції БРД W/Mg₂Si знаходиться на рівні з оптимізованим БРД W/B₄C. Transmission electron microscopy and low-angle X-ray diffraction methods are used for investigations of W/Mg₂Si multilayers structure. It is shown that due to interlayer interaction mixed zones of tungsten silicide are formed on the Mg₂Si-W interface during deposition of W/Mg₂Si multilayers. It is found that the composition of the mixed zones depends on thickness of the layers in X-ray mirror. In the W/Mg₂Si multilayers with period of 3.1 nm the intermixed zones of tungsten silicide with the predominant content of tungsten namely W₃Si and/or W₅Si₃, can be formed. In the multilayers with a period of 14.2 nm the composition of mixed zones is close to WSi₂. Densities of mixed zones in multilayers with periods of 3.1 nm and 14.2 nm are 16.1 g/cm³ and 8.2 g/cm³ respectively. It is shown that reflectivity of the non-optimized in construction W/Mg₂Si multilayer at wavelength of 9.89 nm is close to that of optimized W/B₄C multilayer. ru Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України Журнал физики и инженерии поверхности Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si Ріст, структура та оптичні властивості багатошарових рентгенівських дзеркал W/Mg₂Si Growth, structure and optical features of W/Mg₂Si multilayer X-ray mirrors Article published earlier |
| spellingShingle | Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si Конотопский, Л.Е. Копылец, И.А. Севрюкова, В.А. Зубарев, Е.Н. Мамон, В.В. Кондратенко, В.В. |
| title | Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si |
| title_alt | Ріст, структура та оптичні властивості багатошарових рентгенівських дзеркал W/Mg₂Si Growth, structure and optical features of W/Mg₂Si multilayer X-ray mirrors |
| title_full | Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si |
| title_fullStr | Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si |
| title_full_unstemmed | Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si |
| title_short | Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si |
| title_sort | рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал w/mg₂si |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122605 |
| work_keys_str_mv | AT konotopskiile roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si AT kopylecia roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si AT sevrûkovava roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si AT zubareven roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si AT mamonvv roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si AT kondratenkovv roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si AT konotopskiile ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si AT kopylecia ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si AT sevrûkovava ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si AT zubareven ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si AT mamonvv ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si AT kondratenkovv ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si AT konotopskiile growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors AT kopylecia growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors AT sevrûkovava growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors AT zubareven growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors AT mamonvv growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors AT kondratenkovv growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors |