Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si

Электронно-микроскопическими и рентгенодифракционными методами исследована структура многослойных рентгеновских зеркал (МРЗ) W/Mg₂Si. Показано, что в процессе изготовления МРЗ W/Mg₂Si наблюдается межслоевое взаимодействие, в результате которого формируется перемешанная зона на границе Mg₂Si-W из сил...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Журнал физики и инженерии поверхности
Date:2017
Main Authors: Конотопский, Л.Е., Копылец, И.А., Севрюкова, В.А., Зубарев, Е.Н., Мамон, В.В., Кондратенко, В.В.
Format: Article
Language:Russian
Published: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2017
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122605
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si / Л.Е. Конотопский, И.А. Копылец, В.А. Севрюкова, Е.Н. Зубарев, В.В. Мамон, В.В. Кондратенко // Журнал физики и инженерии поверхности. — 2017. — Т. 2, № 1. — С. 20-28. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862545705641443328
author Конотопский, Л.Е.
Копылец, И.А.
Севрюкова, В.А.
Зубарев, Е.Н.
Мамон, В.В.
Кондратенко, В.В.
author_facet Конотопский, Л.Е.
Копылец, И.А.
Севрюкова, В.А.
Зубарев, Е.Н.
Мамон, В.В.
Кондратенко, В.В.
citation_txt Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si / Л.Е. Конотопский, И.А. Копылец, В.А. Севрюкова, Е.Н. Зубарев, В.В. Мамон, В.В. Кондратенко // Журнал физики и инженерии поверхности. — 2017. — Т. 2, № 1. — С. 20-28. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Журнал физики и инженерии поверхности
description Электронно-микроскопическими и рентгенодифракционными методами исследована структура многослойных рентгеновских зеркал (МРЗ) W/Mg₂Si. Показано, что в процессе изготовления МРЗ W/Mg₂Si наблюдается межслоевое взаимодействие, в результате которого формируется перемешанная зона на границе Mg₂Si-W из силицида вольфрама. Установлено, что состав перемешанной зоны зависит от толщины слоев, составляющих период рентгеновского зеркала. В МРЗ W/Mg₂Si с периодом 3,1 нм формируется перемешанная зона силицида вольфрама с преимущественным содержанием вольфрама: W₃Si и/или W₅Si₃. В МРЗ с периодом 14,2 нм состав перемешанной зоны близок к WSi₂. Плотности перемешанных зон в МРЗ W/Mg₂Si с периодами 3,1 нм и 14,2 нм составляют 16,1 г/см³ и 8,2 г/см³ соответственно. Проведена оценка оптических свойств МРЗ W/Mg₂Si. Показано, что на длине волны 9,89 нм отражательная способность неоптимизированного по конструкции МРЗ W/Mg₂Si находится на уровне с оптимизированным МРЗ W/B₄C. Електронно-мікроскопічними та рентгенодифракційними методами досліджено структуру багатошарових рентгенівських дзеркал (БРД) W/Mg₂Si. Показано, що підчас виготовлення БРД W/Mg₂Si спостерігається міжшарова взаємодія, в результаті якої формується змішана зона на границі Mg₂Si-W з силіциду вольфраму. Встановлено, що склад змішаних зон залежить від товщини шарів, що складають період рентгенівського дзеркала. У БРД W/Mg₂Si з періодом 3,1 нм формується змішана зона силіциду вольфраму з переважним вмістом кремнію: W₃Si та/або W₅Si₃. У БРД з періодом 14,2 нм склад змішаної зони близький до WSi₂. Щільність змішаних зон у БРД W/Mg₂Si з періодами 3,1 нм та 14,2 нм складає 16,1 г/см³ та 8,2 г/см³ відповідно. Оцінені оптичні властивості БРД W/Mg₂Si. Показано, що на довжині хвилі 9,89 нм відбивна здатність не оптимізованого по конструкції БРД W/Mg₂Si знаходиться на рівні з оптимізованим БРД W/B₄C. Transmission electron microscopy and low-angle X-ray diffraction methods are used for investigations of W/Mg₂Si multilayers structure. It is shown that due to interlayer interaction mixed zones of tungsten silicide are formed on the Mg₂Si-W interface during deposition of W/Mg₂Si multilayers. It is found that the composition of the mixed zones depends on thickness of the layers in X-ray mirror. In the W/Mg₂Si multilayers with period of 3.1 nm the intermixed zones of tungsten silicide with the predominant content of tungsten namely W₃Si and/or W₅Si₃, can be formed. In the multilayers with a period of 14.2 nm the composition of mixed zones is close to WSi₂. Densities of mixed zones in multilayers with periods of 3.1 nm and 14.2 nm are 16.1 g/cm³ and 8.2 g/cm³ respectively. It is shown that reflectivity of the non-optimized in construction W/Mg₂Si multilayer at wavelength of 9.89 nm is close to that of optimized W/B₄C multilayer.
first_indexed 2025-11-25T06:45:28Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-122605
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2519-2485
language Russian
last_indexed 2025-11-25T06:45:28Z
publishDate 2017
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
record_format dspace
spelling Конотопский, Л.Е.
Копылец, И.А.
Севрюкова, В.А.
Зубарев, Е.Н.
Мамон, В.В.
Кондратенко, В.В.
2017-07-15T14:30:16Z
2017-07-15T14:30:16Z
2017
Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si / Л.Е. Конотопский, И.А. Копылец, В.А. Севрюкова, Е.Н. Зубарев, В.В. Мамон, В.В. Кондратенко // Журнал физики и инженерии поверхности. — 2017. — Т. 2, № 1. — С. 20-28. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.
2519-2485
PACS: 07.85.Fv, 61.05.cm, 61.05.cf, 68.37.Og, 68.65.Ac
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122605
539.216.2
Электронно-микроскопическими и рентгенодифракционными методами исследована структура многослойных рентгеновских зеркал (МРЗ) W/Mg₂Si. Показано, что в процессе изготовления МРЗ W/Mg₂Si наблюдается межслоевое взаимодействие, в результате которого формируется перемешанная зона на границе Mg₂Si-W из силицида вольфрама. Установлено, что состав перемешанной зоны зависит от толщины слоев, составляющих период рентгеновского зеркала. В МРЗ W/Mg₂Si с периодом 3,1 нм формируется перемешанная зона силицида вольфрама с преимущественным содержанием вольфрама: W₃Si и/или W₅Si₃. В МРЗ с периодом 14,2 нм состав перемешанной зоны близок к WSi₂. Плотности перемешанных зон в МРЗ W/Mg₂Si с периодами 3,1 нм и 14,2 нм составляют 16,1 г/см³ и 8,2 г/см³ соответственно. Проведена оценка оптических свойств МРЗ W/Mg₂Si. Показано, что на длине волны 9,89 нм отражательная способность неоптимизированного по конструкции МРЗ W/Mg₂Si находится на уровне с оптимизированным МРЗ W/B₄C.
Електронно-мікроскопічними та рентгенодифракційними методами досліджено структуру багатошарових рентгенівських дзеркал (БРД) W/Mg₂Si. Показано, що підчас виготовлення БРД W/Mg₂Si спостерігається міжшарова взаємодія, в результаті якої формується змішана зона на границі Mg₂Si-W з силіциду вольфраму. Встановлено, що склад змішаних зон залежить від товщини шарів, що складають період рентгенівського дзеркала. У БРД W/Mg₂Si з періодом 3,1 нм формується змішана зона силіциду вольфраму з переважним вмістом кремнію: W₃Si та/або W₅Si₃. У БРД з періодом 14,2 нм склад змішаної зони близький до WSi₂. Щільність змішаних зон у БРД W/Mg₂Si з періодами 3,1 нм та 14,2 нм складає 16,1 г/см³ та 8,2 г/см³ відповідно. Оцінені оптичні властивості БРД W/Mg₂Si. Показано, що на довжині хвилі 9,89 нм відбивна здатність не оптимізованого по конструкції БРД W/Mg₂Si знаходиться на рівні з оптимізованим БРД W/B₄C.
Transmission electron microscopy and low-angle X-ray diffraction methods are used for investigations of W/Mg₂Si multilayers structure. It is shown that due to interlayer interaction mixed zones of tungsten silicide are formed on the Mg₂Si-W interface during deposition of W/Mg₂Si multilayers. It is found that the composition of the mixed zones depends on thickness of the layers in X-ray mirror. In the W/Mg₂Si multilayers with period of 3.1 nm the intermixed zones of tungsten silicide with the predominant content of tungsten namely W₃Si and/or W₅Si₃, can be formed. In the multilayers with a period of 14.2 nm the composition of mixed zones is close to WSi₂. Densities of mixed zones in multilayers with periods of 3.1 nm and 14.2 nm are 16.1 g/cm³ and 8.2 g/cm³ respectively. It is shown that reflectivity of the non-optimized in construction W/Mg₂Si multilayer at wavelength of 9.89 nm is close to that of optimized W/B₄C multilayer.
ru
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Журнал физики и инженерии поверхности
Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si
Ріст, структура та оптичні властивості багатошарових рентгенівських дзеркал W/Mg₂Si
Growth, structure and optical features of W/Mg₂Si multilayer X-ray mirrors
Article
published earlier
spellingShingle Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si
Конотопский, Л.Е.
Копылец, И.А.
Севрюкова, В.А.
Зубарев, Е.Н.
Мамон, В.В.
Кондратенко, В.В.
title Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si
title_alt Ріст, структура та оптичні властивості багатошарових рентгенівських дзеркал W/Mg₂Si
Growth, structure and optical features of W/Mg₂Si multilayer X-ray mirrors
title_full Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si
title_fullStr Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si
title_full_unstemmed Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si
title_short Рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал W/Mg₂Si
title_sort рост, структура и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал w/mg₂si
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122605
work_keys_str_mv AT konotopskiile roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si
AT kopylecia roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si
AT sevrûkovava roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si
AT zubareven roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si
AT mamonvv roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si
AT kondratenkovv roststrukturaioptičeskiesvoistvamnogosloinyhrentgenovskihzerkalwmg2si
AT konotopskiile ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si
AT kopylecia ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si
AT sevrûkovava ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si
AT zubareven ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si
AT mamonvv ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si
AT kondratenkovv ríststrukturataoptičnívlastivostíbagatošarovihrentgenívsʹkihdzerkalwmg2si
AT konotopskiile growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors
AT kopylecia growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors
AT sevrûkovava growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors
AT zubareven growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors
AT mamonvv growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors
AT kondratenkovv growthstructureandopticalfeaturesofwmg2simultilayerxraymirrors