Приготовление тонких пленок TmS и их электрофизические свойства

• Veröffentlicht in: Журнал физики и инженерии поверхности
• Datum: 2017
• Hauptverfasser: Тетелошвили, М.Г., Джабуа, З.У., Гигинеишвили, А.В.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2017
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122609
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Приготовление тонких пленок TmS и их электрофизические свойства / М.Г. Тетелошвили, З.У. Джабуа, А.В. Гигинеишвили // Журнал физики и инженерии поверхности. — 2017. — Т. 2, № 1. — С. 44-46. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Разработана технология приготовления тонких кристаллических пленок TmS методом дискретного вакуумно-термического испарения предварительно синтезированного материала. При комнатной температуре измерены зависимости удельного электросопротивления и постоянной Холла от размеров характеризирующих частиц приготовленных пленок. Показано, что электрические параметры пленок TmS сильно зависят от размеров характеризующих частиц. Розроблено технологію приготування тонких кристалічних плівок TmS методом дискретного вакуумно-термічного випаровування попередньо синтезованого матеріалу. При кімнатній температурі виміряні залежності питомого електроопору та постійної Холла від розмірів характеризуючих частинок приготованих плівок. Показано, що електричні параметри плівок TmS сильно залежать від розмірів характеризуючих частинок. The technology of preparation of thin crystal films of TmS by method discrete vacuum-thermal evaporation of previously synthesized material is developed. At the room temperature dependences of specific resistance and Hall’s constant on the sizes of the characterizing particles of the prepared films are measured. It is shown that electric parameters of films of TmS strongly depend on the sizes of the characterizing particles.