Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ

Предназначена для ремонта и устранения дефектов фотошаблонов, используемых в производстве ИС, ГИС и полупроводниковых приборов. Устранение непрозрачных дефектов осуществляется путем воздействия сфокусированного лазерного излучения на маскирующее покрытие фотошаблона, устранение прозрачных дефектов —...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:1999
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1999
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122692
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1999. — № 1. — С. 38. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862595905791721472
citation_txt Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1999. — № 1. — С. 38. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Предназначена для ремонта и устранения дефектов фотошаблонов, используемых в производстве ИС, ГИС и полупроводниковых приборов. Устранение непрозрачных дефектов осуществляется путем воздействия сфокусированного лазерного излучения на маскирующее покрытие фотошаблона, устранение прозрачных дефектов — путем лазерно-стимулированного осаждения металлоорганического соединения.
first_indexed 2025-11-27T14:15:43Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-122692
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-11-27T14:15:43Z
publishDate 1999
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling 2017-07-17T14:57:28Z
2017-07-17T14:57:28Z
1999
Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1999. — № 1. — С. 38. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122692
Предназначена для ремонта и устранения дефектов фотошаблонов, используемых в производстве ИС, ГИС и полупроводниковых приборов. Устранение непрозрачных дефектов осуществляется путем воздействия сфокусированного лазерного излучения на маскирующее покрытие фотошаблона, устранение прозрачных дефектов — путем лазерно-стимулированного осаждения металлоорганического соединения.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Научно-промышленные центры СНГ
Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ
Article
published earlier
spellingShingle Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ
Научно-промышленные центры СНГ
title Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ
title_full Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ
title_fullStr Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ
title_full_unstemmed Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ
title_short Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ
title_sort установка ремонта топологии на фотошаблонах эм-5001ам
topic Научно-промышленные центры СНГ
topic_facet Научно-промышленные центры СНГ
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122692