Зображення обкладинки

Использование эффекта Кирлиан для контроля качества полупроводниковых пластин

Метод и оборудование для его реализации позволяют проводить контроль полупроводниковой пластины и отдельных ее участков. The method and equipment for its realization allow to carry out control of semiconductor wafer and individual its sites....

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Дата:	1999
Автор:	Добровольский, Ю.Г.
Формат:	Стаття
Мова:	Російська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1999
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122734
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Использование эффекта Кирлиан для контроля качества полупроводниковых пластин / Ю.Г. Добровольский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1999. — № 5-6. — С. 22-24. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
за авторством: Павлюк, С.П., та інші
Опубліковано: (2004)

Модернизация установки фотонного отжига полупроводниковых пластин “Оникс”
за авторством: Савицкий, Г.В., та інші
Опубліковано: (2002)

Теория АФН-эффекта с демберовским механизмом в полупроводниковых пленках
за авторством: Набиев, Г.А.
Опубліковано: (2008)

Применение полупроводниковых детекторов для учета и контроля РАО
за авторством: Давыдов, Л.Н., та інші
Опубліковано: (2002)

Использование "эффекта текстуры" для повышения прочности конструкционных материалов
за авторством: Гохман, А.Р., та інші
Опубліковано: (2000)

Использование полупроводниковых наноматериалов для создания биосенсоров медицинского и биологического применения
за авторством: Вашпанов, Ю.А.
Опубліковано: (2016)

Воздействие электрического и магнитного полей на параметры полупроводниковых приборов
за авторством: Ащеулов, А.А., та інші
Опубліковано: (2000)

Методы повышения качества налогового контроля
за авторством: Гришанков, М.В.
Опубліковано: (1999)

Методика внутреннего контроля качества аудита
за авторством: Цибизова, И.В.
Опубліковано: (2012)

Частотный метод контроля качества гальванопокрытий
за авторством: Безотосный, В.Ф., та інші
Опубліковано: (2011)

Устройства для контроля качества сварных соединений выводов бескорпусных микросхем
за авторством: Спирин, В.Г.
Опубліковано: (2013)

Относительная достоверность – объективная оценка качества контроля
за авторством: Маевский, С.М.
Опубліковано: (2010)

Гамма-дефектоскопы для радиографического и радиометрического контроля качества промышленных изделий
за авторством: Хорошев, В.Н., та інші
Опубліковано: (2011)

Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
за авторством: Рогов, Р.В., та інші
Опубліковано: (2005)

Устройства для контроля качества сварных соединений выводов бескорпусных микросхем
за авторством: Spirin, V. G.
Опубліковано: (2013)

Применение тепловизионной диагностики для контроля качества паяных соединений статорных обмоток электродвигателей
за авторством: Глуховский, В.Ю.
Опубліковано: (2014)

Некоторые вопросы контроля качества сварки (по материалам конференций в области неразрушающего контроля)
за авторством: Посыпайко, Ю.Н., та інші
Опубліковано: (2010)

Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
за авторством: Rogov, R. V., та інші
Опубліковано: (2005)

Новые возможности радиационного контроля качества сварных соединений
за авторством: Троицкий, В.А.
Опубліковано: (2015)

Модель функционирования полупроводниковых сенсоров с фрактальной структурой
за авторством: Даник, Ю.Г., та інші
Опубліковано: (2005)

Анализ режимов магнитного контроля качества термической обработки среднеуглеродистых сталей
за авторством: Сандомирский, С.Г.
Опубліковано: (2010)

Методология контроля качества изготовления узлов на заводах-изготовителях
за авторством: Федоров, Е.Е.
Опубліковано: (2009)

Использование итерационной теории изгиба ортотропных пластин при сосредоточенных температурных воздействиях
за авторством: Шевченко, В.П., та інші
Опубліковано: (2007)

Комплексное использование критериев качества и загрузки шихтовых материалов
за авторством: Большаков, В.И., та інші
Опубліковано: (2008)

Метод обратной семантической трассировки для контроля качества в гибкой разработке программных проектов
за авторством: Павлов, В.Л., та інші
Опубліковано: (2008)

Система автоматизации контроля мясной продукции. Подсистемы оценки качества мясной продукции
за авторством: Зайцев, В.Г.
Опубліковано: (2006)

К вопросу применения нейронных сетей для контроля качества сварных соединений при подводной сварке
за авторством: Скачков, И.О., та інші
Опубліковано: (2006)

Научно-методический семинар «Новые методы контроля качества сварных соединений металлоконструкций»
за авторством: Белый, Н.Г., та інші
Опубліковано: (2007)

Кредитный мониторинг, как метод контроля качества кредитного портфеля банка
за авторством: Байрам, У.Р.
Опубліковано: (2007)

Оценка и использование показателей качества экспертного решения проблемы
за авторством: Ильина, Е.П.
Опубліковано: (2007)

Повышение чувствительности и функциональных возможностей рентгенотелевизионмых систем контроля качества изделий
за авторством: Терлецкий, А.В., та інші
Опубліковано: (2008)

Использование ускорителей электронов для контроля герметичности защитных оболочек твэлов высокотемпературных газоохлаждаемых реакторов
за авторством: Гурин, В.А., та інші
Опубліковано: (2003)

Установка для исследования микропластичности полупроводниковых кристаллов
за авторством: Надточий, В.А., та інші
Опубліковано: (2004)

Применение адаптивного алгоритма для контроля качества сварки в системах управления контактными точечными машинами
за авторством: Подола, Н.В., та інші
Опубліковано: (2004)

Использование методики структуризации химсостава сталей для повышения точности прогнозов показателей качества катанки
за авторством: Приходько, Э.В., та інші
Опубліковано: (2011)

Дифракционный механизм формирования оппозиционного эффекта яркости поверхностей со сложной структурой
за авторством: Шкуратов, Ю.Г.
Опубліковано: (1988)

Оценка качества систем автоматизированного контроля и слежения за нераспространением радиационных материалов
за авторством: Забулонов, Ю.Л., та інші
Опубліковано: (2010)

Особенности методики контроля качества сварных изделий в условиях ремонтных предприятий
за авторством: Кияшко, Л.А., та інші
Опубліковано: (2002)

Функциональные возможности современных систем автоматизации контроля качества обучения. Сравнительный анализ
за авторством: Гайтан, Е.Н.
Опубліковано: (2015)

4-я конференция — «Организация неразрушающего контроля качества продукции в промышленности»
за авторством: Козин, А.Н.
Опубліковано: (2006)