Использование эффекта Кирлиан для контроля качества полупроводниковых пластин
Метод и оборудование для его реализации позволяют проводить контроль полупроводниковой пластины и отдельных ее участков. The method and equipment for its realization allow to carry out control of semiconductor wafer and individual its sites....
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 1999 |
| Main Author: | Добровольский, Ю.Г. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1999
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/122734 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Использование эффекта Кирлиан для контроля качества полупроводниковых пластин / Ю.Г. Добровольский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1999. — № 5-6. — С. 22-24. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
by: Павлюк, С.П., et al.
Published: (2004)
by: Павлюк, С.П., et al.
Published: (2004)
Модернизация установки фотонного отжига полупроводниковых пластин “Оникс”
by: Савицкий, Г.В., et al.
Published: (2002)
by: Савицкий, Г.В., et al.
Published: (2002)
Теория АФН-эффекта с демберовским механизмом в полупроводниковых пленках
by: Набиев, Г.А.
Published: (2008)
by: Набиев, Г.А.
Published: (2008)
Применение полупроводниковых детекторов для учета и контроля РАО
by: Давыдов, Л.Н., et al.
Published: (2002)
by: Давыдов, Л.Н., et al.
Published: (2002)
Использование "эффекта текстуры" для повышения прочности конструкционных материалов
by: Гохман, А.Р., et al.
Published: (2000)
by: Гохман, А.Р., et al.
Published: (2000)
Использование полупроводниковых наноматериалов для создания биосенсоров медицинского и биологического применения
by: Вашпанов, Ю.А.
Published: (2016)
by: Вашпанов, Ю.А.
Published: (2016)
Воздействие электрического и магнитного полей на параметры полупроводниковых приборов
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2000)
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2000)
Методы повышения качества налогового контроля
by: Гришанков, М.В.
Published: (1999)
by: Гришанков, М.В.
Published: (1999)
Методика внутреннего контроля качества аудита
by: Цибизова, И.В.
Published: (2012)
by: Цибизова, И.В.
Published: (2012)
Частотный метод контроля качества гальванопокрытий
by: Безотосный, В.Ф., et al.
Published: (2011)
by: Безотосный, В.Ф., et al.
Published: (2011)
Устройства для контроля качества сварных соединений выводов бескорпусных микросхем
by: Спирин, В.Г.
Published: (2013)
by: Спирин, В.Г.
Published: (2013)
Относительная достоверность – объективная оценка качества контроля
by: Маевский, С.М.
Published: (2010)
by: Маевский, С.М.
Published: (2010)
Гамма-дефектоскопы для радиографического и радиометрического контроля качества промышленных изделий
by: Хорошев, В.Н., et al.
Published: (2011)
by: Хорошев, В.Н., et al.
Published: (2011)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
by: Рогов, Р.В., et al.
Published: (2005)
by: Рогов, Р.В., et al.
Published: (2005)
Устройства для контроля качества сварных соединений выводов бескорпусных микросхем
by: Spirin, V. G.
Published: (2013)
by: Spirin, V. G.
Published: (2013)
Применение тепловизионной диагностики для контроля качества паяных соединений статорных обмоток электродвигателей
by: Глуховский, В.Ю.
Published: (2014)
by: Глуховский, В.Ю.
Published: (2014)
Некоторые вопросы контроля качества сварки (по материалам конференций в области неразрушающего контроля)
by: Посыпайко, Ю.Н., et al.
Published: (2010)
by: Посыпайко, Ю.Н., et al.
Published: (2010)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
by: Rogov, R. V., et al.
Published: (2005)
by: Rogov, R. V., et al.
Published: (2005)
Новые возможности радиационного контроля качества сварных соединений
by: Троицкий, В.А.
Published: (2015)
by: Троицкий, В.А.
Published: (2015)
Модель функционирования полупроводниковых сенсоров с фрактальной структурой
by: Даник, Ю.Г., et al.
Published: (2005)
by: Даник, Ю.Г., et al.
Published: (2005)
Анализ режимов магнитного контроля качества термической обработки среднеуглеродистых сталей
by: Сандомирский, С.Г.
Published: (2010)
by: Сандомирский, С.Г.
Published: (2010)
Методология контроля качества изготовления узлов на заводах-изготовителях
by: Федоров, Е.Е.
Published: (2009)
by: Федоров, Е.Е.
Published: (2009)
Использование итерационной теории изгиба ортотропных пластин при сосредоточенных температурных воздействиях
by: Шевченко, В.П., et al.
Published: (2007)
by: Шевченко, В.П., et al.
Published: (2007)
Комплексное использование критериев качества и загрузки шихтовых материалов
by: Большаков, В.И., et al.
Published: (2008)
by: Большаков, В.И., et al.
Published: (2008)
Метод обратной семантической трассировки для контроля качества в гибкой разработке программных проектов
by: Павлов, В.Л., et al.
Published: (2008)
by: Павлов, В.Л., et al.
Published: (2008)
Система автоматизации контроля мясной продукции. Подсистемы оценки качества мясной продукции
by: Зайцев, В.Г.
Published: (2006)
by: Зайцев, В.Г.
Published: (2006)
К вопросу применения нейронных сетей для контроля качества сварных соединений при подводной сварке
by: Скачков, И.О., et al.
Published: (2006)
by: Скачков, И.О., et al.
Published: (2006)
Научно-методический семинар «Новые методы контроля качества сварных соединений металлоконструкций»
by: Белый, Н.Г., et al.
Published: (2007)
by: Белый, Н.Г., et al.
Published: (2007)
Кредитный мониторинг, как метод контроля качества кредитного портфеля банка
by: Байрам, У.Р.
Published: (2007)
by: Байрам, У.Р.
Published: (2007)
Оценка и использование показателей качества экспертного решения проблемы
by: Ильина, Е.П.
Published: (2007)
by: Ильина, Е.П.
Published: (2007)
Повышение чувствительности и функциональных возможностей рентгенотелевизионмых систем контроля качества изделий
by: Терлецкий, А.В., et al.
Published: (2008)
by: Терлецкий, А.В., et al.
Published: (2008)
Использование ускорителей электронов для контроля герметичности защитных оболочек твэлов высокотемпературных газоохлаждаемых реакторов
by: Гурин, В.А., et al.
Published: (2003)
by: Гурин, В.А., et al.
Published: (2003)
Установка для исследования микропластичности полупроводниковых кристаллов
by: Надточий, В.А., et al.
Published: (2004)
by: Надточий, В.А., et al.
Published: (2004)
Применение адаптивного алгоритма для контроля качества сварки в системах управления контактными точечными машинами
by: Подола, Н.В., et al.
Published: (2004)
by: Подола, Н.В., et al.
Published: (2004)
Использование методики структуризации химсостава сталей для повышения точности прогнозов показателей качества катанки
by: Приходько, Э.В., et al.
Published: (2011)
by: Приходько, Э.В., et al.
Published: (2011)
Дифракционный механизм формирования оппозиционного эффекта яркости поверхностей со сложной структурой
by: Шкуратов, Ю.Г.
Published: (1988)
by: Шкуратов, Ю.Г.
Published: (1988)
Оценка качества систем автоматизированного контроля и слежения за нераспространением радиационных материалов
by: Забулонов, Ю.Л., et al.
Published: (2010)
by: Забулонов, Ю.Л., et al.
Published: (2010)
Особенности методики контроля качества сварных изделий в условиях ремонтных предприятий
by: Кияшко, Л.А., et al.
Published: (2002)
by: Кияшко, Л.А., et al.
Published: (2002)
Функциональные возможности современных систем автоматизации контроля качества обучения. Сравнительный анализ
by: Гайтан, Е.Н.
Published: (2015)
by: Гайтан, Е.Н.
Published: (2015)
4-я конференция — «Организация неразрушающего контроля качества продукции в промышленности»
by: Козин, А.Н.
Published: (2006)
by: Козин, А.Н.
Published: (2006)
Similar Items
-
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
by: Павлюк, С.П., et al.
Published: (2004) -
Модернизация установки фотонного отжига полупроводниковых пластин “Оникс”
by: Савицкий, Г.В., et al.
Published: (2002) -
Теория АФН-эффекта с демберовским механизмом в полупроводниковых пленках
by: Набиев, Г.А.
Published: (2008) -
Применение полупроводниковых детекторов для учета и контроля РАО
by: Давыдов, Л.Н., et al.
Published: (2002) -
Использование "эффекта текстуры" для повышения прочности конструкционных материалов
by: Гохман, А.Р., et al.
Published: (2000)