Skobtsov, V., & Rakhman, A. T. A. (2012). The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy. Труды Института прикладной математики и механики.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Skobtsov, V.Y, und Al Tal Abdel Rakhman. "The Test Generation of Digital Sequential Circuits with the Multiple Observation Time Strategy." Труды Института прикладной математики и механики 2012.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Skobtsov, V.Y, und Al Tal Abdel Rakhman. "The Test Generation of Digital Sequential Circuits with the Multiple Observation Time Strategy." Труды Института прикладной математики и механики, 2012.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.