The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy

• Veröffentlicht in: Труды Института прикладной математики и механики
• Datum: 2012
• Hauptverfasser: Skobtsov, V.Y., Rakhman, Al Tal Abdel
• Format: Artikel
• Sprache: English
• Veröffentlicht: Інститут прикладної математики і механіки НАН України 2012
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/124131
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy / V.Y. Skobtsov, Al Tal Abdel Rakhman // Труды Института прикладной математики и механики НАН Украины. — Донецьк: ІПММ НАН України, 2012. — Т. 25. — С. 210-216. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.

The test generation method is designed for digital circuits with memory on the basis of distinguishing state pairs of good and fault devices. The multiple observation time test strategy, 16-valued alphabet and genetic algorithms are used. The proposed method permits to cover the faults that are not detected with traditional methods. It increases the fault coverage. Для цифровых схем с памятью разработан метод построения тестов на основе различения пар состояний исправного и неисправного устройств. Применяется стратегия кратного наблюдения, 16-значный алфавит и генетические алгоритмы. Предложенный метод позволяет покрыть неисправности, являющиеся нетестируемыми традиционными методами. Это существенно повышает покрытие неисправностей. Для цифрових схем з пам’яттю розроблено метод побудови тестiв на базi розрiзнення пар станiв непошкодженого та пошкодженого пристроїв. Застосовано стратегiю кратного спостереження, 16-значний алфавiт та генетичнi алгоритми. Запропонований метод дозволяє покрити пошкодження, якi є нетестовними традицiйними методами. Це суттєво пiдвищує покриття пошкоджень.