The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy
The test generation method is designed for digital circuits with memory on the basis of distinguishing state pairs of good and fault devices. The multiple observation time test strategy, 16-valued alphabet and genetic algorithms are used. The proposed method permits to cover the faults that are not...
Saved in:
| Published in: | Труды Института прикладной математики и механики |
|---|---|
| Date: | 2012 |
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Інститут прикладної математики і механіки НАН України
2012
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/124131 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy / V.Y. Skobtsov, Al Tal Abdel Rakhman // Труды Института прикладной математики и механики НАН Украины. — Донецьк: ІПММ НАН України, 2012. — Т. 25. — С. 210-216. — Бібліогр.: 3 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862733291088510976 |
|---|---|
| author | Skobtsov, V.Y. Rakhman, Al Tal Abdel |
| author_facet | Skobtsov, V.Y. Rakhman, Al Tal Abdel |
| citation_txt | The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy / V.Y. Skobtsov, Al Tal Abdel Rakhman // Труды Института прикладной математики и механики НАН Украины. — Донецьк: ІПММ НАН України, 2012. — Т. 25. — С. 210-216. — Бібліогр.: 3 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Труды Института прикладной математики и механики |
| description | The test generation method is designed for digital circuits with memory on the basis of distinguishing state pairs of good and fault devices. The multiple observation time test strategy, 16-valued alphabet and genetic algorithms are used. The proposed method permits to cover the faults that are not detected with traditional methods. It increases the fault coverage.
Для цифровых схем с памятью разработан метод построения тестов на основе различения пар состояний исправного и неисправного устройств. Применяется стратегия кратного наблюдения, 16-значный алфавит и генетические алгоритмы. Предложенный метод позволяет покрыть неисправности, являющиеся нетестируемыми традиционными методами. Это существенно повышает покрытие неисправностей.
Для цифрових схем з пам’яттю розроблено метод побудови тестiв на базi розрiзнення пар станiв непошкодженого та пошкодженого пристроїв. Застосовано стратегiю кратного спостереження, 16-значний алфавiт та генетичнi алгоритми. Запропонований метод дозволяє покрити пошкодження, якi є нетестовними традицiйними методами. Це суттєво пiдвищує покриття пошкоджень.
|
| first_indexed | 2025-12-07T19:36:25Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-124131 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1683-4720 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T19:36:25Z |
| publishDate | 2012 |
| publisher | Інститут прикладної математики і механіки НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Skobtsov, V.Y. Rakhman, Al Tal Abdel 2017-09-20T11:56:17Z 2017-09-20T11:56:17Z 2012 The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy / V.Y. Skobtsov, Al Tal Abdel Rakhman // Труды Института прикладной математики и механики НАН Украины. — Донецьк: ІПММ НАН України, 2012. — Т. 25. — С. 210-216. — Бібліогр.: 3 назв. — англ. 1683-4720 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/124131 681.518:681.326.7 The test generation method is designed for digital circuits with memory on the basis of distinguishing state pairs of good and fault devices. The multiple observation time test strategy, 16-valued alphabet and genetic algorithms are used. The proposed method permits to cover the faults that are not detected with traditional methods. It increases the fault coverage. Для цифровых схем с памятью разработан метод построения тестов на основе различения пар состояний исправного и неисправного устройств. Применяется стратегия кратного наблюдения, 16-значный алфавит и генетические алгоритмы. Предложенный метод позволяет покрыть неисправности, являющиеся нетестируемыми традиционными методами. Это существенно повышает покрытие неисправностей. Для цифрових схем з пам’яттю розроблено метод побудови тестiв на базi розрiзнення пар станiв непошкодженого та пошкодженого пристроїв. Застосовано стратегiю кратного спостереження, 16-значний алфавiт та генетичнi алгоритми. Запропонований метод дозволяє покрити пошкодження, якi є нетестовними традицiйними методами. Це суттєво пiдвищує покриття пошкоджень. en Інститут прикладної математики і механіки НАН України Труды Института прикладной математики и механики The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy Построение тестов цифровых последовательностных схем на основе кратной стратегии наблюдения Побудова тестiв цифрових послiдовносних схем на основi кратної стратегiї спостереження Article published earlier |
| spellingShingle | The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy Skobtsov, V.Y. Rakhman, Al Tal Abdel |
| title | The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| title_alt | Построение тестов цифровых последовательностных схем на основе кратной стратегии наблюдения Побудова тестiв цифрових послiдовносних схем на основi кратної стратегiї спостереження |
| title_full | The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| title_fullStr | The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| title_full_unstemmed | The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| title_short | The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| title_sort | test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/124131 |
| work_keys_str_mv | AT skobtsovvy thetestgenerationofdigitalsequentialcircuitswiththemultipleobservationtimestrategy AT rakhmanaltalabdel thetestgenerationofdigitalsequentialcircuitswiththemultipleobservationtimestrategy AT skobtsovvy postroenietestovcifrovyhposledovatelʹnostnyhshemnaosnovekratnoistrategiinablûdeniâ AT rakhmanaltalabdel postroenietestovcifrovyhposledovatelʹnostnyhshemnaosnovekratnoistrategiinablûdeniâ AT skobtsovvy pobudovatestivcifrovihposlidovnosnihshemnaosnovikratnoístrategiísposterežennâ AT rakhmanaltalabdel pobudovatestivcifrovihposlidovnosnihshemnaosnovikratnoístrategiísposterežennâ AT skobtsovvy testgenerationofdigitalsequentialcircuitswiththemultipleobservationtimestrategy AT rakhmanaltalabdel testgenerationofdigitalsequentialcircuitswiththemultipleobservationtimestrategy |