The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy
The test generation method is designed for digital circuits with memory on the basis of distinguishing state pairs of good and fault devices. The multiple observation time test strategy, 16-valued alphabet and genetic algorithms are used. The proposed method permits to cover the faults that are not...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Труды Института прикладной математики и механики |
|---|---|
| Datum: | 2012 |
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Інститут прикладної математики і механіки НАН України
2012
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/124131 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy / V.Y. Skobtsov, Al Tal Abdel Rakhman // Труды Института прикладной математики и механики НАН Украины. — Донецьк: ІПММ НАН України, 2012. — Т. 25. — С. 210-216. — Бібліогр.: 3 назв. — англ. |